[实用新型]贵金属精密检测计数装置有效
申请号: | 201520161848.2 | 申请日: | 2015-03-23 |
公开(公告)号: | CN204515821U | 公开(公告)日: | 2015-07-29 |
发明(设计)人: | 孙芸 | 申请(专利权)人: | 上海西渥电器有限公司 |
主分类号: | G06M1/10 | 分类号: | G06M1/10;G06M1/272 |
代理公司: | 上海申蒙商标专利代理有限公司 31214 | 代理人: | 徐小蓉 |
地址: | 201801 上*** | 国省代码: | 上海;31 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 贵金属 精密 检测 计数 装置 | ||
1.一种贵金属精密检测计数装置,用于检测贵金属的数量,其特征在于:所述装置包括振动盘、检测转盘和检测光纤,所述检测转盘上开设有至少一个容置槽,所述容置槽的形状、大小与所述贵金属的形状、大小吻合适配,所述振动盘具有送料轨道,所述送料轨道用于将所述贵金属供送至所述容置槽内,所述检测光纤设置于所述容置槽与所述送料轨道的出口之间,用于检测所述容置槽的容置状态,所述检测转盘的下方设置有至少一个卸料口,所述卸料口用于将位于所述容置槽内的贵金属卸除。
2.根据权利要求1所述的一种贵金属精密检测计数装置,其特征在于:所述检测转盘沿其圆周方向的盘体外缘均布开设有若干容置槽组,所述容置槽组包括若干所述容置槽,位于所述容置槽与所述送料轨道的出口之间的所述检测光纤的数量与每个所述容置槽组内的所述容置槽的数量相等。
3.根据权利要求2所述的一种贵金属精密检测计数装置,其特征在于:沿所述检测转盘的转动方向,在所述卸料口的后方设置有复测光纤,所述复测光纤的数量与每个所述容置槽组内的所述容置槽的数量相等。
4.根据权利要求1所述的一种贵金属精密检测计数装置,其特征在于:所述振动盘固定安装于一振动盘架上方,所述检测转盘固定安装于一主架上方,所述主架上固定安装有一伺服马达,所述伺服马达连接驱动所述检测转盘。
5.根据权利要求1所述的一种贵金属精密检测计数装置,其特征在于:所述振动盘的送料轨道的出口与所述容置槽的中心位置处于同一直线上,且高度相同。
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