[实用新型]一种装样品机

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种装样设备，具体涉及一种均匀性好的装样品机。

背景技术

有放射性的同位素称为“放射性同位素”,没有放射性并且半衰期大于1050年的则称为“稳定同位素”，并不是所有同位素都具有放射性；因此有放射性的同位素称称放射性同位素或放射性核素。放射性核素超标的物品对人体和动物存在着某种损害作用，因而加强对物品放射性核素的检验、监管，尤其是对与人民生活密切相关的货物的放射性核素的检验、监管力度是非常有必要的。

物品放射性核素的检验通常是通过放射性检测仪器来检验的。目前一些放射性检测仪器在检测粉末状、小颗粒状、肉糜状等这类物质的放射性核素过程中，对待检样品的物质分布均匀性要求较高；物质分布的均匀性对放射性核素检验结果的准确性影响较大，对于物质分布均匀性好的检测物品的放射性核素检测结果准确性高，而物质分布均匀性不佳的检测物品的放射性核素检测结果准确性差；因而在检测粉末状、小颗粒状、肉糜状等这类物质的放射性核素检时，如何得到物质分布均匀性好的待检样品是非常重要的。

实用新型内容

本实用新型的目的是为了克服现有技术中的不足，提供一种适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，并且装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性的装样品机。

本实用新型的技术方案是：

一种装样品机，包括机架，设置在机架上的支撑平板，设置在支撑平板下表面上的振动器，设置在支撑平板上方的放置平板，设置在放置平板顶面中部的圆形限位槽，放置在圆形限位槽内的装样盒体，设置支撑平板与放置平板之间的称重传感器及设置在机架上的抱紧校验装置；所述装样盒体呈圆筒形，且装样盒体的上端开口，圆形限位槽的底面中心设有上过杆通孔，支撑平板上、位于上过杆通孔正下方设有下过杆通孔，所述抱紧校验装置包括设置在机架上的竖直下导套，可滑动的设置在竖直下导套内的竖直推杆，套设在竖直推杆上的导向圆环，连接导向圆环与竖直推杆的连接杆，设置在机架上的竖直上导套，可滑动的设置在竖直上导套内的竖直校验顶杆，若干设置在机架上并绕竖直下导套周向均布的水平导套，可滑动设置在各水平导套内的水平推杆及设置在机架上用于带动竖直推杆升降的第一升降气缸；所述竖直上导套位于竖直下导套上方，竖直上导套与竖直下导套同轴，竖直上导套位于下过杆通孔的正下方，所述竖直校验顶杆的上端可自下而上穿过下过杆通孔及上过杆通孔；所述水平导套与水平推杆之间通过键连接，各水平推杆上、靠近竖直推杆的一端设有往下延伸的下支撑杆，远离竖直推杆的一端设有往上延伸的上支撑杆，所述下支撑杆上设有自下而上横截面逐渐增大的导向锥体，所述水平推杆上、位于水平导套与竖直推杆之间设有限位挡块，水平推杆位于水平导套与限位挡块之间设有可使导向锥体抵靠在导向圆环上的压缩弹簧；所述上支撑杆上、位于放置平板上方设有往圆形限位槽中心延伸的抱紧块。

本方案结构适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，装样得到的样品的物质分布均匀性好，并且可以对装样样品的物质分布均匀性分布是否均匀进行检验，保证装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性。

作为优选，竖直校验顶杆外侧面上设有上限位块及下限位块，所述上限位块位于竖直上导套上方，下限位块位于竖直上导套下方；并且当上限位块位抵靠在竖直上导套上端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的下方；当下限位块位抵靠在竖直上导套下端时，所述竖直校验顶杆的上端位于圆形限位槽底面的上方。

作为优选，竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上，同时，竖直推杆上端与竖直校验顶杆之间设有间隙。

作为优选，竖直推杆外侧面上、位于竖直下导套上方设有环形限位凸块，当环形限位凸块抵靠在竖直下导套上端时，所述抱紧块抵靠在装样盒体外侧面上。

作为优选，放置平板上设有往上延伸的环形限位套，所述圆形限位槽位于环形限位套内，所述环形限位套上设有若干与抱紧块一一对应的避让缺口，所述抱紧块可穿过避让缺口。

作为优选，圆形限位槽的中心落在竖直校验顶杆的轴线上。

作为优选，竖直校验顶杆的顶面为平面。

作为优选，机架上设有机体外壳，所述支撑平板，放置平板及抱紧校验装置均位于机体外壳内。

本实用新型的有益效果是：适用于对粉末状、小颗粒状、肉糜状物质进行装样，并且装样得到的样品的物质分布均匀性好，有利于提高样品的放射性核素检测结果的准确性。

附图说明