[实用新型]一种O型密封圈漏率检测装置有效
申请号: | 201520174961.4 | 申请日: | 2015-03-26 |
公开(公告)号: | CN204740107U | 公开(公告)日: | 2015-11-04 |
发明(设计)人: | 严林;岳清;严航嘉 | 申请(专利权)人: | 自贡市佳世特密封制品有限公司 |
主分类号: | G01M3/22 | 分类号: | G01M3/22 |
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地址: | 643000 四川省自*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 密封圈 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及检测装置,具体为一种O型密封圈漏率检测装置。
背景技术
O型密封圈因其结构简单、安装方便,是最常见的一种密封制品,在大多数的密封场合下,都要求密封尽可能达到“零”泄露,漏率是密封装置设计的重要参数,在某些高温高压场合下,通常使用O型密封圈配合法兰进行密封,高温高压工况下,压差越大,密封泄露的可能性也越大,温度越高,密封圈结构破坏的可能性也越大,目前行业内,针对O型圈漏率的检测都是将样品送往第三方检测机构检测,因此,针对不同型号、规格产品的检测费用对中小企业而言,是一笔不小的研发支出,如能开发一种在满足行业标准的O型圈漏率检测装置,则最好不过了。
发明内容
本实用新型针对上述技术现状,提出了一种0型密封圈漏率检测装置,该装置将待检测密封圈安装在法兰组合内,法兰加热后,通过法兰上的充气孔和检漏孔,使用氦质谱检漏仪测量漏率,实现待考核密封圈温度、压力和漏率的同步测量。
为达到上述目的,本发明拟采用如下技术:
一种O型密封圈漏率检测装置,包括高压氦气发生装置(1),氦质谱检漏仪(9),还包括加热锅(4),上、下法兰(5、6),温度压力测试仪(8),所述上、下法兰(5、6)配装在加热锅(4)中,上法兰(5)中部设置有充气孔,充气孔上端连接有中空筒体(50),中空筒体(50)内设置有连接温度压力测试仪(8)的压力传感器(80)、温度传感器(81),中空筒体(50)与高压氦气发生装置(1)相连,所述上法兰(5)靠近其边缘处还设置有检漏孔(51),检漏孔(51)与氦质谱检漏仪(9)相连接。
进一步地,所述高压氦气发生装置(1)为高压氦气瓶。
进一步地,所述高压氦气发生装置(1)与中空筒体(50)之间还设置有充气阀(2),放气阀(3),试验开始前,当高压氦气发生装置(1)向中空筒体(50)充气时,充气阀(2)打开,放气阀(3)关闭,当试验结束后,充气阀(2)关闭,放气阀(3)打开,放出中空筒体(50)的氦气。
进一步地,所述加热锅(4)内盛装有液体加热介质(40),视O型密封圈的承压条件,所述液体加热介质(40)是水或者是恒温油中的一种。
进一步地,所述上、下法兰(5、6)之间还设置有用于放置O型密封圈的半圆槽,所述半圆槽数量为2条,使用时,半圆槽中放置O型密封圈(7)。
本实用新型通过设置加热锅,上、下法兰,温度压力测试仪,以及在上法兰上巧妙地布置中空筒体,使得本装置可以测定不同温度、不同压差下的O型密封圈的泄露率,经济使用价值高。
附图说明
图1示出了本实用新型的示意图。
具体实施方式
如图1所示,本方案设计的检漏装置使用时,将待检测O型密封圈7安装在上、下法兰5、6的半圆槽中,通过高压氦气瓶的加压,加热锅4的加温,模拟高温高压环境下O型密封圈7的工况,本装置中采用氦质谱检漏仪9对O型密封圈7检漏,从而得到设定温度、设定压力下O型密封圈7的漏率变化。两道O型密封圈7之间为检漏区域,内道密封圈内为气体腔。关闭放气阀3,打开充气阀2,高压氦气瓶连接中空筒体50,并向气体腔内充压,则内道密封圈两侧的气体腔与检漏区形成压差。法兰组合整体放入加热锅4,气体腔内气体与内道密封圈直接接触,可近似认为温度相同,检漏时氦质谱检漏仪9对检漏区持续抽真空,内、外道密封圈外的氦分子在压差的驱动下进人检漏区,被检漏仪检测得到检漏区漏率,此漏率为内外道密封圈漏率之和,但当上、下法兰放入加热锅4时,外道密封圈可认为是“零”气体泄漏,此时,氦质谱检漏仪9测得的为内道密封圈的漏率,由此可以得出不同温度,不同压差下O型密封圈的漏率。
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