[实用新型]过程环境中的声学检测有效

专利信息
申请号: 201520182247.X 申请日: 2015-03-27
公开(公告)号: CN204649305U 公开(公告)日: 2015-09-16
发明(设计)人: 科里·迈克尔·鲁宾逊;马克仕·安东尼奥·维埃拉·佩卢索;荻奥多·亨利·施奈尔;赖安·托马斯·林德西;林恩·勒罗伊·福克纳 申请(专利权)人: 罗斯蒙特公司
主分类号: G01H17/00 分类号: G01H17/00
代理公司: 中科专利商标代理有限责任公司 11021 代理人: 李江晖
地址: 美国明*** 国省代码: 美国;US
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摘要:
搜索关键词: 过程 环境 中的 声学 检测
【权利要求书】:

1.一种用于工业过程器件的声学测量系统,该声学测量系统包括:

过程控制装置,该过程控制装置部分地基于来自靠近所述工业过程器件定位的声学传感器的信号提供表示靠近所述工业过程器件的声学信号的值;

提供声学值的第二声学传感器;以及

降噪部件,该降噪部件使用来自所述第二声学传感器的声学值以改变所述过程控制装置提供的值,以使得所述过程控制装置提供的值更能代表所述工业过程器件产生的声学信号。

2.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述降噪部件基于来自所述第二声学传感器的声学值减小来自靠近所述工业过程器件定位的声学传感器的信号的大小。

3.根据权利要求2所述的声学测量系统,其中通过给来自所述第二声学传感器的声学值应用衰减系数以形成衰减的声学值并且从信号的大小中减去所述衰减的声学值,所述降噪部件减小来自靠近所述工业过程器件定位的声学传感器的信号的大小。

4.根据权利要求3所述的声学测量系统,其中所述衰减系数表示从所述第二声学传感器的位置至靠近所述工业过程器件定位的声学传感器的位置的信号的衰减。

5.根据权利要求4所述的声学测量系统,其中在工业过程器件没有正在产生声能时,通过接收来自所述第二声学传感器的声学测试信号以及来自靠近所述工业过程器件定位的声学传感器的声学测试信号,来确定所述衰减系数。

6.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述降噪部件包括抗噪声变送器,该抗噪声变送器产生抵消由第二声学传感器感测到的声学噪声 的至少一部分的信号。

7.根据权利要求6所述的声学测量系统,其中所述抗噪声变送器基于衰减系数和传播延时值产生抵消所述声学噪声的至少一部分的信号。

8.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述过程控制装置包括声学变送器。

9.根据权利要求8所述的声学测量系统,其中所述第二声学传感器和所述声学传感器与所述声学变送器通信,并且所述降噪部件位于所述声学变送器内。

10.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述声学传感器是第一声学变送器的一部分,并且所述第二声学传感器是第二声学变送器的一部分。

11.根据权利要求10所述的声学测量系统,其中所述第二声学变送器将所述第二声学传感器的所述声学值直接提供给所述第一声学变送器,并且所述降噪部件位于所述第一声学变送器内。

12.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述过程控制装置包括无线网关,并且所述降噪部件位于所述无线网关内。

13.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述过程控制装置包括主机,并且所述降噪部件位于所述主机内。

14.根据权利要求1所述的声学测量系统,其中所述过程控制装置包括网络管理工具,并且所述降噪部件位于所述网络管理工具内。

15.一种声学测量系统,包括:

声学传感器,该声学传感器被构造为靠近过程管道安装;以及

声学抑制装置,该声学抑制装置包括:

至少一个内表面,该至少一个内表面被成形为与所述过程管道配合;以及

至少一个连接器,该至少一个连接器用于将所述声学抑制装置固定至所述过程管道上。

16.根据权利要求15所述的声学测量系统,其中所述声学抑制装置位于用于所述声学传感器的安装位置与噪声源之间。

17.根据权利要求15所述的声学测量系统,其中所述声学抑制装置还包括至少两个悬臂凸缘。

18.根据权利要求17所述的声学测量系统,其中所述至少两个悬臂凸缘包括一排悬臂凸缘,以使得在所述一排悬臂凸缘内所述悬臂凸缘之间的间隙是变化的。

19.根据权利要求17所述的声学测量系统,其中所述声学抑制装置还包括位于所述至少两个悬臂凸缘之间的阻尼材料。

20.根据权利要求17所述的声学测量系统,其中所述至少两个悬臂凸缘包括一排悬臂凸缘,以使得在所述一排悬臂凸缘内所述悬臂凸缘的长度是变化的。

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