[实用新型]用于检测可透光材质表面图像的设备

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测设备技术领域，尤其是涉及一种根据光线穿透物质后的反应记录来判断被测物的良劣的设备。

背景技术

蓝宝石基板或者玻璃板上的图案成型相当重要，其为经过蚀刻或者硬化后的结构，尤其是在进行的过程中，有可能因为各项因素导致不良品的产生。

就现阶段检测的技术，是在蓝宝石基板或者玻璃基板图案成型后进行抽检，于同一批完成的蓝宝石基板或者玻璃基板中，随机检验几片，倘若发现问题，则将整批统一进行处理。其检验方式是采用一种扫描探针显微镜(AFM)进行检测，其透过探针蓝宝石基板或者玻璃基板表面逐一感测表面的高低，其进行处理的速度慢。

因此，在有些状况下，是挑选测试物的某几个表面位置进行形状的确认，藉以加快检测的速度，但是这种检测方式误诊率很高。

实用新型内容

为了克服现有技术的不足，本实用新型提出一种用于检测可透光材质表面图像的设备，其可以大幅缩短检测时程，可使用于逐一检测，改善目前抽检作业的缺点，可精确进行产品的分类，利于后续的加工作业的进行。

为了解决上述的技术问题，本实用新型提出的基本技术方案为：一种用于检测可透光材质表面图像的设备，其包括一发光源；一置物台，该置物台位于该发光源的上方，其用于放置测试物；一接收器，位于所述置物台的上方，用以接收穿透所述测试物后方的光线；一控制单元，电信连接所述发光源与所述接收器，用于控制所述发光源的位置；以及，接收所述接收器所读取的资料，并根据接收器所读取的资料进行分类。

优选的，所述发光源所射出的光的方向与所述置物台上的测试物垂直。

优选的，所述发光源或者所述测试物按照设定的路径移动。

优选的，所述接收器对所述测试物进行数位化分析，并依照数位化分析的位置记录测试物被光线穿透后的数据。

优选的，其中进一步包括一第二检视设备，用于放大检视查看被测物的缺陷。

本实用新型的有益效果是：

本实用新型的技术方案，通过接收器接收测试物后的光线，并将接收到的光线传输给控制单元以进行数位化分析，最终实现检测和分类；本技术可以大幅度缩短检测时程，可使用于逐个零件的检测，改善了目前抽检作业的缺点，可精确进行产品分类，有利于后续加工作业的进行。

附图说明

图1为本实用新型所述的用于检测可透光材质表面图像的设备的结构示意图；

图2为图1所述的发光源或者置物台的路径示意图。

附图中的标识说明：

10发光源20置物台30接收器

40控制单元50第二检视设备60显示器

具体实施方式

以下将结合附图1至附图2对本实用新型做进一步的说明，但不应以此来限制本实用新型的保护范围。

对照附图1至附图2：

本实用新型所述的用于检测可透光材质表面图像的设备1，其包括发光源10、置物台20、接收器30和控制单元40。其中发光源10位于置物台20的正下方，所述接收器30位于置物台20的正上方，控制单元40通信连接所述接收器30和发光源10。

其中，置物台20用以供放置测试物S，接收器30用于接收穿透测试物S后的光线。控制单元40通信连接所述的发光源10用于控制该发光源10或者测试物S的位置，并且该控制单元40还用于接收接收器30所读取的资料，且根据接收器30所读取的资料对测试物S进行分类。

具体的，发光源10所射出的光线与置物台20上的测试物S垂直。该发光源10或者置物台20的结构可如图2所示，依照一个预设定的路径进行移动，以完成所有的扫描，其中图中虚线表示依照前方的箭头方向往返完成整片扫描。

接收器30接收到的光线数据传输给控制单元40，该控制单元40对接收到的数据进行数位化分析，并依照数位化分析的位置进行记录光线穿透测试物S后的数据。本设备还包括第二检视设备50，该第二检视设备50用于放大检视查看在检测用于检测可透光材质表面图像的设备1检测后被列为不符合要求的测试物S的状态，以方便后续的加工。再者，通过本设备还可以增加垂直方向对图像厚度和高度及形状的观测以方便检测。

另外，本实用新型的技术方案具有将检查结构归类作成档案保存在系统装置内的功能，并进一步经由该控制单元40信号连接一个显示器60，可将检查档案列表于画面上，选择需要的检查结构时可显示出该位置的档案以检查画面。本实用新型也可自动产生输出各被测物或者各批量的检查报告的显示画面，又或者自由选取需要的资料产生检查报告。并根据检查结果能够进行制造设备和制成的确认以及改善的特征。

根据上述说明书的揭示和教导，本实用新型所属领域的技术人员还可以对上述实施方式进行变更和修改。因此，本实用新型并不局限于上面揭示和描述的具体实施方式，对本实用新型的一些修改和变更也应当落入本实用新型的权利要求的保护范围内。此外，尽管本说明书中使用了一些特定的术语，但这些术语只是为了方便说明，并不对本实用新型构成任何限制。