[实用新型]一种缺相检测电路

说明书

技术领域

本实用新型涉及检测电路技术领域，特别是涉及一种缺相检测电路。

背景技术

现有技术中，很多设备都是三相供电的，如果发生缺相的话可能会导致设备不能正常工作甚至烧坏设备等危害，如果产生高的悬浮电压甚至会对人身造成伤害，故及早发现缺相可把危害降到最低。

实用新型内容

本实用新型的目的在于避免现有技术中的不足之处而提供一种缺相检测电路，该缺相检测电路可及早发现三相电路缺相，降低危害，该电路安全可靠，电路简单，成本低，适用各种设备电源的缺相检测。

本实用新型的目的通过以下技术方案实现：

提供一种缺相检测电路，用于检测三相电路是否缺相，三相电路包括A相、B相和C相，其特征在于：包括三个降压电路、可控硅和光耦，A相、B相和C相分别经三个降压电路后分别接至可控硅的三个极，所述光耦的发光器串接于可控硅的导通回路，可控硅导通，则光耦的发光器发光，光耦的受光器的集电极输出电平信号。

所述降压电路分别为第一降压电路、第二降压电路和第三降压电路，所述第一降压电路为第一电容C2。

所述第二降压电路为第二电容C3。

所述第三降压电路为第三电容C4。

还包括报警电路，所述报警电路接于所述可控硅的导通回路。

所述报警电路包括发光二极管LED1。

所述第一电容的两端并联有第一电阻R10。

所述第二电容的两端并联有第二电阻R11。

所述第三电容的两端并联有第三电阻R12。

所述B相和C相之间接有电容C1。

本实用新型的有益效果：

1、本实用新型的缺相检测电路，将三相电路的A相、B相和C相分别经三个降压电路后分别接至可控硅的三个极，所述光耦的发光器串接于可控硅的导通回路，可控硅导通，则光耦的发光器发光，光耦的受光器的集电极输出电平信号，通过观察输出的电平信号可及早发现三相电路缺相，把危害降到最低，可将输出的电平信号送至外部处理器，比如DSP，由DSP作出处理。

2、市电高电压和电源信号通过光耦U1进行隔离，安全可靠。

3、本实用新型的电路只需要一个光耦就可实现，电路简单，成本较低，适用各种设备电源的缺相检测。

4、对于频率较低的50Hz交流电而言，在电容上产生的热能损耗很小，因此效率高。

5、本实用新型的体积小。

附图说明

利用附图对实用新型作进一步说明，但附图中的实施例不构成对本实用新型的任何限制，对于本领域的普通技术人员，在不付出创造性劳动的前提下，还可以根据以下附图获得其它的附图。

图1是本实用新型的一种缺相检测电路的电路图。

具体实施方式

结合以下实施例对本实用新型作进一步描述。

本实施例的一种缺相检测电路，用于检测三相电路是否缺相，三相电路包括A相、B相和C相，本实施例包括三个降压电路、可控硅SCR1和光耦U1，A相、B相和C相分别经三个降压电路后分别接至可控硅的三个极，所述光耦U1的发光器串接于可控硅的导通回路，可控硅导通，则光耦U1的发光器发光，光耦U1的受光器的集电极输出电平信号。

所述降压电路分别为第一降压电路、第二降压电路和第三降压电路。

如图1所示，所述第一降压电路为第一电容C2，所述第二降压电路为第二电容C3，所述第三降压电路为第三电容C4，第一电容C2、第二电容C3和第三电容C4为无极性电容。

本实施例还包括报警电路，所述报警电路接于所述可控硅的导通回路，所述报警电路包括发光二极管LED1。

所述第一电容的两端并联有第一电阻R10，所述第二电容的两端并联有第二电阻R11，所述第三电容的两端并联有第三电阻R12，电阻R10、电阻R11和电阻R12为电容泄放电阻。

所述B相和C相之间接有电容C1，电容C1可防止存在扰动电压。

本实施例的电阻R1至4起进一步降压的作用。

本实施例的工作原理如下：

1.当三相电正常时

A相，B相，C相通过电容降压后分别连接可控硅SCR1的A,G,K极时，三相电正常时可控硅SCR1将在半个周期内导通，发光二极管LED1将发出正常亮光，光耦U1的1,2脚发光，3，4脚导通，此时光耦U1的受光器的集电极输出低电平，可控硅SCR1在另外半个周期不导通，光耦U1的受光器的集电极输出高电平，通过该电平信号可判断三相电正常时输出的是高低电平交替出现。