[实用新型]LED芯片结构的成像测量装置有效

专利信息
申请号: 201520210666.X 申请日: 2015-04-09
公开(公告)号: CN204666522U 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 朱腾飞;慎月强;汪哲弘;沈斌;陈琪 申请(专利权)人: 杭州市质量技术监督检测院
主分类号: G01N21/84 分类号: G01N21/84;G01B11/00
代理公司: 杭州之江专利事务所(普通合伙) 33216 代理人: 张慧英
地址: 310019 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: led 芯片 结构 成像 测量 装置
【权利要求书】:

1.LED芯片结构的成像测量装置,其特征在于包括:驱动电源(1)、导轨(2)、LED光源固定支架(3)、几何光学组件、成像部件;LED光源固定支架(3)、几何光学组件、成像部件从左到右依次轴接在导轨(2)上;驱动电源(1)用于给待测LED供电。

2.根据权利要求1所述的LED芯片结构的成像测量装置,其特征在于:所述的几何光学组件包括滤波片(5)、光强衰减片(6)、透镜组(7);滤波片(5)、光强衰减片(6)、透镜组(7)自左及右依次轴接在导轨(2)上,并能在导轨(2)上自由滑动。

3.根据权利要求2所述的LED芯片结构的成像测量装置,其特征在于:所述的透镜组(7)为球面透镜组合或菲涅尔透镜组合两种中的任意一种。

4.根据权利要求1所述的LED芯片结构的成像测量装置,其特征在于:所述的成像部件为成像屏、光电成像设备两种内的任意一种。

5.根据权利要求1或4所述的LED芯片结构的成像测量装置,其特征在于:所述的成像部件若为光电成像设备,光电成像设备将图像数据传给图像处理设备(9)分析并存储。

6.根据权利要求1所述的LED芯片结构的成像测量装置,其特征在于:所述的导轨(2)为可移动导轨。

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