[实用新型]专用IC检测仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及嵌入式仪器仪表技术领域，具体涉及专用IC检测。

背景技术

随着集成电路加工技术的迅速发展，其集成度多为十万、百万个门电路，这样的优点是在小小的硅片中可以实现更多的功能，给后期的研发制板带来方便，但是其发热量也随之增多，芯片的损坏概率增大。对于一些设有电工电子类相关专业的教育高校，对集成芯片的需求量很大，同个集成芯片需重复使用，如果不能实时检测出芯片的好坏，可能对后期的教学、实验、材料的供给和更新带来极大不便，目前市场上的IC检测仪功能单一，针对性较强，不适合于相关高校的使用。

当前IC检测仪选择：(1)IC检测仪的设计大都是比较笨重，体积比较大，功能相对都比较专一，而且检测仪大部分是针对特定公司企业和特定IC所开发的；(2)当今市场上IC检测仪用途最广的是对一些特定IC的性能进行测试，面向于高校实验室常用IC好坏检测的产品相对较少，市场资源紧缺，并且价格偏高，因此使用的范围受到限制。

操作性选择：现有的IC检测仪大都封装在一个密闭的金属盒子中，只留有供使用者连接检测元件的接口，这样的优点是提高系统的误操作性，缺点是为了能够正确的使用，需要仔细阅读产品的操作说明书，对后期的维护、教学、实验带来不便。

因此，为了弥补上述IC检测方面的不足之处。该系统将从整体上解决和改善上述问题。

实用新型内容

本实用新型的目的在于，提供一种专用IC检测仪，解决以上技术 问题中的一个或者多个。

本实用新型所解决的技术问题可以采用以下技术方案来实现：

专用IC检测仪，包括电源管理模块、运放和数字芯片检测模块、单片机检测模块、点阵式液晶检测模块、ADC和DAC检测模块、数码管检测模块；

所述各个检测模块包括有独立的控制器、液晶显示屏、功能按键、过流保护单元；

所述液晶显示屏，用于观察当前检测信息、操作说明和当前检测状态，连接所述控制器；

所述功能按键，用于切换检测的元件，确认检测，连接所述控制器；

所述过流保护单元，连接所述检测模块，采用0.5A温度保险丝，所述检测模块连接有独立启动开关，采用单刀双掷船型开关；

所述控制器采用STC12C5A60S2，内部集成有模数转换模块(ADC)、PWM模块、看门狗复位功能，分别连接所述液晶显示屏、所述功能按键和所述检测元件接口座，采用的自锁式的芯片接口座，可以重复使用上万次，所述检测元件接口座连接检测元件。

本实用新型专用IC检测仪是针对目前高校实验室中的检测仪器中的缺点和不足，面向设计性实验中的专用IC芯片检测设计开发的。目前实验室的芯片检测仪仅可以检测TTL74/54系列、CMOS40/45系列的数字集成芯片，功能单一，准确率差。无法实现对其他集成度更高的专用IC如单片机、LCD液晶显示器、A/D和D/A芯片、单运放、双运放、四运放、专用传感器等的检测，给教学、实验过程带来不便。因而，针对性地设计自制的专用IC检测仪，实现对专用芯片进行快速可靠的检测，可以使实验得以更加顺利的开展。

常用单片机的检测，实现对常用的AT89C51、AT89C52、AT89C2051、STC系列单片机的检测。

常用点阵式液晶显示器的检测，实现对LCD1602、12864B、SO12864-27A、MZLH-04/08等常用液晶显示器的检测。

常用数码管检测，实现对0.5寸共阳、共阴，四连体共阳、共阴数码管的检测。

常用A/D、D/A芯片的检测，实现对常用A/D包括ADC0804、ADC0809和常用D/A包括DAC0832等芯片。

常用运算放大器系列，实现对多种单运放、双运放、四运放的检测。

其他常用74/54系列数字芯片(加入24C0x检测、18B20等的检测)。

所述单片机检测模块通过总线模式连接所述控制器，所述单片机设有内部ROM擦出、烧录所需的电平转化模块，所述的电平转换模块可以实现0V、5V、12V之间的切换。

所述点阵式液晶检测模块设有多种驱动接口座，可以同时对12864液晶、MZ-04/08液晶、5110液晶、1602液晶进行检测。

所述数码管检测模块，设有单个数码管、四连体数码管、共阳数码管和共阴数码管不同类型接口座，可以同时和分时进行检测，有防数码管防插错和过流保护功能。