[实用新型]用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹有效
申请号: | 201520230653.9 | 申请日: | 2015-04-15 |
公开(公告)号: | CN204495705U | 公开(公告)日: | 2015-07-22 |
发明(设计)人: | 晁小涛;杨涛;穆玥;程远梅;魏文昌;杨轶 | 申请(专利权)人: | 陕西天宏硅材料有限责任公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 | 代理人: | 宋秀珍 |
地址: | 710006 陕西省咸阳*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 用于 红外 光谱仪 进行 单晶硅 测试 样品 | ||
1.用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹,其特征在于:包括底架(1)和弹簧片(2),所述底架(1)的上端面一侧设有凸台(4),所述底架(1)的上端面另一侧制有圆孔(11),所述弹簧片(2)是由弧形端(21)和平直端(22)构成的耳朵型结构,所述平直端(22)上制有椭圆孔(23),所述弧形端(21)的端部与凸台(4)的上端面连接,所述平直端(22)的下端面与底架(1)的上端面平行适配并使椭圆孔(23)与圆孔(11)的中心正对,所述平直端(22)的椭圆孔(23)与底架(1)的圆孔(11)中间夹持样片(5)进行红外光谱仪检测。
2.根据权利要求1所述的用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹,其特征在于:所述弧形端(21)的端部与凸台(4)通过螺钉(3)固定连接。
3.根据权利要求1或2所述的用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹,其特征在于:所述底架(1)为长方形结构,所述底架(1)的四角设为圆角(12)。
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