[实用新型]用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹有效

专利信息
申请号: 201520230653.9 申请日: 2015-04-15
公开(公告)号: CN204495705U 公开(公告)日: 2015-07-22
发明(设计)人: 晁小涛;杨涛;穆玥;程远梅;魏文昌;杨轶 申请(专利权)人: 陕西天宏硅材料有限责任公司
主分类号: G01N21/01 分类号: G01N21/01
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 宋秀珍
地址: 710006 陕西省咸阳*** 国省代码: 陕西;61
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摘要:
搜索关键词: 用于 红外 光谱仪 进行 单晶硅 测试 样品
【权利要求书】:

1.用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹,其特征在于:包括底架(1)和弹簧片(2),所述底架(1)的上端面一侧设有凸台(4),所述底架(1)的上端面另一侧制有圆孔(11),所述弹簧片(2)是由弧形端(21)和平直端(22)构成的耳朵型结构,所述平直端(22)上制有椭圆孔(23),所述弧形端(21)的端部与凸台(4)的上端面连接,所述平直端(22)的下端面与底架(1)的上端面平行适配并使椭圆孔(23)与圆孔(11)的中心正对,所述平直端(22)的椭圆孔(23)与底架(1)的圆孔(11)中间夹持样片(5)进行红外光谱仪检测。

2.根据权利要求1所述的用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹,其特征在于:所述弧形端(21)的端部与凸台(4)通过螺钉(3)固定连接。

3.根据权利要求1或2所述的用于红外光谱仪进行单晶硅测试的样品夹,其特征在于:所述底架(1)为长方形结构,所述底架(1)的四角设为圆角(12)。

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