[实用新型]晶振检测仪挡料机构有效
| 申请号： | 201520244711.3 | 申请日： | 2015-04-22 |
| 公开（公告）号： | CN204528602U | 公开（公告）日： | 2015-08-05 |
| 发明（设计）人： | 李谦平;林峰;杨宗安 | 申请（专利权）人： | 福建省将乐县长兴电子有限公司 |
| 主分类号： | B65G47/74 | 分类号： | B65G47/74 |
| 代理公司： | 北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 | 代理人： | 曾捷 |
| 地址： | 353300 福建*** | 国省代码： | 福建;35 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 检测 仪挡料 机构 | ||
1.一种晶振检测仪挡料机构，包括倾斜设置的晶体轨道（1），所述晶体轨道（1）上设置有供单个晶振依次通行的晶振通槽（2），所述晶体轨道（1）的左侧设置有检测装置（3），其特征在于：所述晶体轨道（1）上设置有挡料装置，该挡料装置由位于所述晶体轨道（1）左侧的左挡料机构和位于所述晶体轨道（1）右侧的右挡料机构组成，所述右挡料机构由右挡料座（4）以及设置在该右挡料座（4）上的第一挡料针（5）和第三挡料针（6）构成，所述第一挡料针（5）和第三挡料针（6）平行设置于所述右挡料座（4）对应晶体轨道（1）的一侧，所述左挡料机构由左挡料座（7）以及设置在该左挡料座（7）上的第二挡料针（8）和第四挡料针（9）构成，所述第二挡料针（8）和第四挡料针（9）平行设置于所述左挡料座（7）对应晶体轨道（1）的一侧，所述检测装置（3）设置于所述晶体轨道（1）上对应所述第四挡料针（9）位置处。
2.根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于：所述晶体轨道（1）下方设置有贯穿其左右两侧的挡料连板（10），所述左挡料机构和所述右挡料机构均固定设置在该挡料连板（10）上。
3. 根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于：所述第二挡料针（8）位于所述第一挡料针（5）和第三挡料针（6）的中间位置，且所述第一挡料针（5）和第二挡料针（8）之间的距离等于单个晶振的长度。
4. 根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于：所述第一挡料针（5）、第二挡料针（8）、第三挡料针（6）和第四挡料针（9）均与所述晶体轨道（1）相垂直。
5. 根据权利要求1或4所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于：所述晶体轨道（1）表面对应所述第一挡料针（5）、第二挡料针（8）和第三挡料针（6）位置处分别设置有供其滑行通过的过针槽（11）。
6. 根据权利要求1所述的晶振检测仪挡料机构，其特征在于：所述第四挡料针（9）位于所述晶体轨道（1）上表面下方，贯穿所述晶体轨道（1）左侧壁后伸入至所述晶振通槽（2）内。
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