[实用新型]积层膜片检测系统

说明书

技术领域

本实用新型是有关于一种积层膜片检测系统，以检测叠合保护膜与偏光板的积层膜片，可在避免保护膜的相位差影响下，检测积层膜片的缺陷。

背景技术

偏光板为液晶显示器的关键零组件，其设置于液晶盒的两侧，且因为其中一侧直接面向使用者，其外观若具有明显瑕疵，将不易被使用者所接受，故在偏光板生产显示器的组装过程中，皆需要增加保护膜于偏光板表面，防止偏光板损伤；然而，在偏光板生产过程，亦需要针对偏光板的各式外观缺陷、轴向、光学性质等进行检测，例如采用作为基准的检测用偏光板与待测的偏光板叠加后，即可在吸收轴相互直交下，检测出破损、异物、气泡与刮伤等外观缺陷所造成的漏光，以及量测其吸收轴角度与偏光度等性质，但一般作为保护膜的基材，例如PET等，普遍具有不规则相位差分布区域，因此会造成检测过程光学影像的干扰，且为了提高视角、对比等光学表现，现行偏光板普遍包含补偿膜，虽一般补偿膜通常具有固定的相位差值，因此可以藉由叠合另一相位差膜将具有单一相位差值的补偿膜的影响排除，但对于保护膜的影响，则仅可在未贴附保护膜前先对偏光板进行检测，而无法在同时排除补偿膜与保护膜所有区域的不同相位差影响下，对贴附保护膜后的偏光板进行检测，然而，在贴附保护膜后或过程中，偏光板仍可能产生缺陷，而造成偏光板最终产品不良；因此，需要一种可检测叠合保护膜与偏光板的积层膜片检测系统，以在避免保护膜的不规则相位差影响下，检测积层膜片的缺陷。

实用新型内容

有鉴于上述习知技术的问题，本实用新型的目的在于提供一种积层膜片检测系统，以期克服现有产品无法对贴附保护膜后的偏光板进行检测的难点。

为达到上述目的，本实用新型提供一种积层膜片检测系统，其中积层膜片包含保护膜与偏光板，该积层膜片检测系统包含：光源，用以照射积层膜片的偏光板侧，其中积层膜片的保护膜宽度方向的一端具有记录保护膜的各区域的光学性质的图案标记；可调相位差装置，其设置于积层膜片的保护膜侧，且包含复数区可独立调整补偿值的相位差阵列；检测用偏光板，其设置于光源通过可调相位差装置后的光路上；标记读取装置，用以读取保护膜的图案标记，并解读该图案标记所记录的光学性质；控制单元，其电连接于标记读取装置与可调相位差装置，并依照图案标记所记录的光学性质调整可调相位差装置的该复数区的相位差阵列的补偿值，以与保护膜的各相应区域的相位差抵消；影像撷取装置，设置于光源通过检测用偏光板后的光路上，用以撷取抵消保护膜相位差后的积层膜片的透光影像；以及检测元件，其电连接于影像撷取装置，并基于所撷取的透光影像，对积层膜片进行缺陷检测。

在一实施例的积层膜片检测系统中，可调相位差装置包含单层或多层的液晶盒，以改变补偿值的可调整范围。

在又一实施例的积层膜片检测系统中，液晶盒为电控或磁控，以改变液晶方向。

在另一实施例的积层膜片检测系统中，液晶盒的补偿值R₀为0nm至180nm。

在另一实施例的积层膜片检测系统中，液晶盒的液晶为圆盘状液晶或杆状液晶。

在另一实施例的积层膜片检测系统中，该积层膜片检测系统还包含转动装置，该转动装置用以改变检测用偏光板与积层膜片的偏光板的吸收轴的相对角度。

在另一实施例的积层膜片检测系统中，该积层膜片检测系统还包含缺陷标记装置，该缺陷标记装置电连接于检测元件，并依据检测结果，将缺陷标记于积层膜片的保护膜。

本实用新型设置有可调相位差装置，其具有复数区可独立调整补偿值的相位差阵列以抵消保护膜各区域的相位差，从而解决了现有技术中无法对贴附保护膜后的偏光板进行缺陷检测的技术问题。

附图说明

图1为本实用新型的调光装置一实施例的示意图。

图2为本实用新型的调光装置的可调相位差装置与所对应具有图案标记的保护膜的示意图。

图3为本实用新型的调光装置另一实施例的示意图。

具体实施方式

为使本实用新型的特征、内容、优点及其所能达成的功效更易了解，兹将本实用新型配合附图，并以实施例的表达形式详细说明如下，而其中所使用的附图，其主旨仅为示意及辅助说明书之用，未必为本实用新型实施后的真实比例与精准配置，故不应就附图的比例与配置关系解读、局限本实用新型于实际实施上的权利范围，合先叙明。

以下将参照相关附图，说明依本实用新型的积层膜片检测系统的实施例，为使便于理解，下述实施例中的相同元件以相同的符号标示来说明。