[实用新型]一种双向晶闸管检测仪电路有效

专利信息
申请号: 201520255416.8 申请日: 2015-04-24
公开(公告)号: CN204595169U 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 李俊 申请(专利权)人: 李俊
主分类号: G01R31/327 分类号: G01R31/327
代理公司: 北京科亿知识产权代理事务所(普通合伙) 11350 代理人: 汤东凤
地址: 315700 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 一种 双向 晶闸管 检测 电路
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及一种检测仪,具体是一种双向晶闸管检测仪电路。

背景技术

双向晶闸管是一种常见的电子元件,由于它的正、反特性具有对称性,所以它可在任何一个方向导通,是一种理想的交流开关器件,因此常被用于电路中的控制器件,是整个控制电路的核心部件,误使用了损坏的双向晶闸管可能会导致整个电路无法启动,甚至引发电路毁损的严重后果,因此在使用前检查质量是很重要的,目前大部分双向晶闸管的检测还使用万能表进行测量,操作复杂,使用不便,少数几种专用检测仪也存在结构复杂、价格昂贵,因此普及率不高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种结构简单、使用方便的双向晶闸管检测仪电路,以解决上述背景技术中提出的问题。

为实现上述目的,本实用新型提供如下技术方案:

一种双向晶闸管检测仪电路,包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1,所述电阻R1的一端连接芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8和芯片IC2的引脚3,电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7,电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6,电容C1的另一端连接芯片IC1的引脚1和电源E的负极,芯片IC1的引脚3连接电阻R4、电阻R5、二极管D1的阴极和二极管D2的阳极,二极管D1的阳极连接电阻R3和二极管D2的阴极,电阻R3的另一端连接待测双向晶闸管Q1的第二基极c,电阻R4的另一端连接按键开关K1,按键开关K1的另一端连接双向晶闸管Q1的控制极b,双向晶闸管Q1的第一基极e连接三极管VT1的集电极和三极管VT2的集电极,所述芯片IC1的型号为NE555,芯片IC2的型号为LM7805。

作为本实用新型的优选方案:所述二极管D1和二极管D2均为发光二极管。

作为本实用新型的优选方案:所述电源E为2节5V干电池。

与现有技术相比,本实用新型的有益效果是:本实用新型双向晶闸管检测仪电路结构简单、元器件少,并且价格低廉,极大的降低了制作成本,使用时仅需将双向晶闸管放在检测位置即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏,因此具有制作成本低、使用方便的优点,适合推广使用。

附图说明

图1为双向晶闸管检测仪电路的电路图。

具体实施方式

下面将结合本实用新型实施例中的附图,对本实用新型实施例中的技术方案进行清楚、完整地描述,显然,所描述的实施例仅仅是本实用新型一部分实施例,而不是全部的实施例。基于本实用新型中的实施例,本领域普通技术人员在没有做出创造性劳动前提下所获得的所有其他实施例,都属于本实用新型保护的范围。

请参阅图1,一种双向晶闸管检测仪电路,包括电源E、开关S1、电阻R1和芯片IC1,所述电阻R1的一端连接芯片IC1的引脚4、芯片IC1的引脚8和芯片IC2的引脚3,电阻R1的另一端连接电阻R2和芯片IC1的引脚7,电阻R2的另一端连接电容C1、芯片IC1的引脚2和芯片IC1的引脚6,电容C1的另一端连接芯片IC1的引脚1和电源E的负极,芯片IC1的引脚3连接电阻R4、电阻R5、二极管D1的阴极和二极管D2的阳极,二极管D1的阳极连接电阻R3和二极管D2的阴极,电阻R3的另一端连接待测双向晶闸管Q1的第二基极c,电阻R4的另一端连接按键开关K1,按键开关K1的另一端连接双向晶闸管Q1的控制极b,双向晶闸管Q1的第一基极e连接三极管VT1的集电极和三极管VT2的集电极。

芯片IC1的型号为NE555,芯片IC2的型号为LM7805。

二极管D1和二极管D2均为发光二极管。

电源E为2节5V干电池。

本实用新型的工作原理是:电路中的芯片IC1、电阻R1、电阻R2和电容C1组成一个无稳态多谐振荡器,振荡周期T=0.693(R1+2R2)C,占空比接近1:1,测量时,闭合开关S1,如果二极管D1和二极管D2均不发光,说明双向晶闸管Q1的两个主电极之间正常, 如果如果二极管D1和二极管D2均发光,说明双向晶闸管Q1内部短路,按下按键开关K1,芯片IC1振荡周期的正半周其3脚输出呈高电平时,二极管D2、电阻R3、双向晶闸管Q1和三极管VT1呈闭合回路,二极管D2发光,芯片IC1振荡周期的负半周其3脚输出呈低电平时,三极管VT2导通,二极管D1发光,说明双向晶闸管Q1是好的,否则说明损坏。电路结构简单、元器件少,并且价格低廉,极大的降低了制作成本,使用时仅需将双向晶闸管放在检测位置即可通过发光二极管的状态判断三极管的好坏,因此具有制作成本低、使用方便的优点,适合推广使用。

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