[实用新型]测耦检波器有效
申请号: | 201520258826.8 | 申请日: | 2015-04-27 |
公开(公告)号: | CN204556849U | 公开(公告)日: | 2015-08-12 |
发明(设计)人: | 魏继东 | 申请(专利权)人: | 魏继东 |
主分类号: | G01V1/18 | 分类号: | G01V1/18 |
代理公司: | 济南日新专利代理事务所 37224 | 代理人: | 崔晓艳 |
地址: | 266071 山东省青岛*** | 国省代码: | 山东;37 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 检波器 | ||
1.测耦检波器,其特征在于,该测耦检波器包括第一压电陶瓷晶体和检波器,该第一压电陶瓷晶体位于该检波器的顶部。
2.根据权利要求1所述的测耦检波器,其特征在于,该测耦检波器还包括第二压电陶瓷晶体和第三压电陶瓷晶体,该第二压电陶瓷晶体位于该检波器的第一侧面上,该第三压电陶瓷晶体位于与该第二压电陶瓷晶体所在的第一侧面相互垂直的第二侧面上。
3.根据权利要求2所述的测耦检波器,其特征在于,该第一压电陶瓷晶体位于该检波器外壳内部的顶部的中心位置,该第二压电陶瓷晶体,该第三压电陶瓷晶体分别位于检波器外壳内部的两个侧面的中心位置,采用工业用胶将其粘合到该检波器外壳上。
4.根据权利要求2所述的测耦检波器,其特征在于,该第一压电陶瓷晶体,该第二压电陶瓷晶体,该第三压电陶瓷晶体由钛酸钡BT、锆钛酸铅PZT、改性锆钛酸铅压电材料制成。
5.根据权利要求2所述的测耦检波器,其特征在于,该第一压电陶瓷晶体,该第二压电陶瓷晶体,该第三压电陶瓷晶体的形状为圆形或者方形。
6.根据权利要求2所述的测耦检波器,其特征在于,该第一压电陶瓷晶体,该第二压电陶瓷晶体,该第三压电陶瓷晶体的大小、重量为在其出力具有较高的信噪比的条件下,根据不同的材料,通过试验确定具体的参数。
7.根据权利要求2所述的测耦检波器,其特征在于,该第一压电陶瓷晶体,该第二压电陶瓷晶体,该第三压电陶瓷晶体的厚度为根据所采用压电陶瓷的种类以及组合的方式而定,以输出的振动有较高的信噪比且与该检波器内芯保持不少于2mm的间距为宜。
8.根据权利要求1所述的测耦检波器,其特征在于,该检波器为动圈式模拟检波器,MEMS数字检波器,压电检波器或涡流检波器。
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