[实用新型]同步移相干涉测量系统有效

专利信息
申请号: 201520261884.6 申请日: 2015-04-25
公开(公告)号: CN204854620U 公开(公告)日: 2015-12-09
发明(设计)人: 林燕彬 申请(专利权)人: 林燕彬
主分类号: G01B9/02 分类号: G01B9/02
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 350200 *** 国省代码: 福建;35
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摘要:
搜索关键词: 同步 相干 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种同步移相干涉测量系统,其特征在于:所述同步移相干涉测量系统主要包括激光器(1)、多个分光棱镜、半反半透镜(3)、多个CCD和参考镜(10),其中,多个分光棱镜包括第一分光棱镜(2)、第二分光棱镜(4)和第三分光棱镜(7),多个CCD包括第一CCD(5)、第二CCD(6)、第三CCD(8)和第四CCD(9),所述第一分光棱镜(2)三面分别设置激光器(1)、参考镜(10)和被测镜(11),激光器(1)、第一分光棱镜(2)和被测镜(11)设置在同一光轴线上,第一分光棱镜(2)的第四面对应参考镜(10)的方向设置有半反半透镜(3),半反半透镜(3)的两个出射光方向分别对应设置第二分光棱镜(4)和第三分光棱镜(7),第二分光棱镜(4)对应设置第一CCD(5)和第二CCD(6),第三分光棱镜(7)对应设置第三CCD(8)和第四CCD(9)。

2.根据权利要求1所述的同步移相干涉测量系统,其特征在于:所述激光器(1)为偏振氦氖激光器。

3.根据权利要求1所述的同步移相干涉测量系统,其特征在于:所述多个分光棱镜为偏振分光棱镜。

4.根据权利要求1所述的同步移相干涉测量系统,其特征在于:所述激光器(1)和第一分光棱镜(2)、第一分光棱镜(2)和半反半透镜(3)之间分别设置有1/2波片(13)。

5.根据权利要求1所述的同步移相干涉测量系统,其特征在于:所述第一分光棱镜(2)和参考镜(10)以及被测镜(11)之间分别设置有1/4波片(12)。

6.根据权利要求1所述的同步移相干涉测量系统,其特征在于:所述第二分光棱镜(4)和第二CCD(6)、第三分光棱镜(7)和第四CCD(9)之间分别设置反射镜(14)。

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