[实用新型]一种集成电路分选机测试位挡板装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种集成电路分选机测试位挡板装置，适用于SOP、SSOP、HSOP、MSOP、DIP等封装形式的重力下滑式集成电路分选机，属于集成电路测试设备技术领域。

背景技术

目前，常见的重力下滑式集成电路分选机测试位挡板均由金属材料制成，金属材料具有导电性。集成电路塑封体裸露的铜线与集成电路内部相连，测试时集成电路引脚与金手指簧片相接触，金手指簧片通过野口、测试DUT板、测试头与测试系统相连。集成电路高压测试时，测试位挡板与集成电路塑封体裸露的铜线相接触造成短路，出现打火花现象，烧毁被测试的集成电路，并干扰集成电路测试系统与集成电路分选机之间的通信信号。

发明内容

本实用新型的目的在于克服上述不足之处，从而提供一种集成电路分选机测试位挡板装置，能够避免集成电路高压测试时测试位挡板与集成电路塑封体裸露的铜线间短路，解决了集成电路高压测试时烧毁被测试的集成电路的问题，以及集成电路测试系统与集成电路分选机之间的通信信号干扰问题。

按照本实用新型提供的技术方案，一种集成电路分选机测试位挡板装置包括挡板底座、挡板、绝缘板和挡板驱动气缸，其特征是：挡板中部转动连接在挡板底座上，挡板一端下端连接挡板驱动气缸，挡板另一端连接绝缘板。

进一步的，绝缘板采用陶瓷材料制作。

进一步的，绝缘板前端设有避让槽。

本实用新型与已有技术相比具有以下优点：

本实用新型结构简单、紧凑、合理，使用方便，通过挡板上的绝缘板防止集成电路高压测试时测试位挡板与集成电路塑封体裸露的铜线间短路，解决了集成电路高压测试时烧毁被测试的集成电路的问题，以及集成电路测试系统与集成电路分选机之间的通信信号干扰问题。

附图说明

图1为本实用新型工作示意图。

图2为本实用新型主视图。

附图标记说明：1-挡板底座、2-挡板、3-绝缘板、4-挡板驱动气缸、5-避让槽、A-集成电路、B-金手指簧片、C-测试轨道、D-测试气缸、E-送料轨道。

具体实施方式

下面本实用新型将结合附图中的实施例作进一步描述：

如图1~2所示，本实用新型主要包括挡板底座1、挡板2、绝缘板3和挡板驱动气缸4，挡板2中部转动连接在挡板底座1上，挡板2一端下端连接挡板驱动气缸4，挡板2另一端连接绝缘板3。

所述绝缘板3采用陶瓷材料制作，在使用时，为了让绝缘板3前端顺利伸入测试轨道中，绝缘板3前端设有避让槽5，从而能顺利避开测试轨道。

本实用新型的工作原理及工作过程：在工作时，绝缘板连接在挡板前端。测试时，挡板驱动气缸4向上推动挡板，挡板围绕挡板底座转动，从而带动绝缘板下降，插入测试轨道内，挡住测试轨道里重力下滑的集成电路，挡板前端的绝缘板与集成电路塑封体裸露的铜线相接触，起到绝缘作用，能够防止集成电路高压测试时测试位挡板与集成电路塑封体裸露的铜线间短路，能解决集成电路高压测试时烧毁被测试的集成电路的问题，以及集成电路测试系统与集成电路分选机之间的通信信号干扰问题。