[实用新型]一种激光跟踪仪测长精度标定装置有效
申请号: | 201520275677.6 | 申请日: | 2015-04-30 |
公开(公告)号: | CN205102782U | 公开(公告)日: | 2016-03-23 |
发明(设计)人: | 赵延辉;李丽娟;李宁;杨昕 | 申请(专利权)人: | 长春理工大学 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02 |
代理公司: | 长春菁华专利商标代理事务所 22210 | 代理人: | 陶尊新 |
地址: | 130022 吉林*** | 国省代码: | 吉林;22 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 激光 跟踪 仪测长 精度 标定 装置 | ||
1.一种激光跟踪仪测长精度标定装置,其特征是,光学平台(2)上从左至右依次设置激光跟踪仪(8)、双频激光干涉仪(1)、干涉镜组夹具(4)和直角棱镜组夹具(11),干涉镜组夹具(4)由下往上依次放置干涉镜组(3)、双频激光干涉仪目标反射镜(13)、激光跟踪仪反射靶镜组(14),其中干涉镜组(3)由垂直纸面方向连接的干涉分光镜(3-1)和干涉反射镜(3-2)组成,直角棱镜组夹具(11)上放置直角棱镜组(12),直角棱镜组(12)由下往上依次为第二直角棱镜(12-2)、第一直角棱镜(12-1)、第三直角棱镜(12-3)、第四直角棱镜(12-4);
光学平台(2)右侧放置虚拟导轨(5),五棱镜组(9)放置在虚拟导轨(5)上,五棱镜组(9)由下往上依次为第一五棱镜(9-1)和第二五棱镜(9-2);
双频激光干涉仪(1)出射光束经干涉镜组(3)中的干涉分光镜(3-1)后分为两束,第一束经干涉分光镜(3-1)后水平出射,并依次经五棱镜(9-1)和五棱镜(9-2)反射,再水平出射并对准双频激光干涉仪目标反射镜(13)中心,原路返回后对准双频激光干涉仪的辅助对准光阑中心,第二束经干涉分光镜(3-1)后进入干涉反射镜(3-2),原路返回后对准双频激光干涉仪的辅助对准光阑中心;
激光跟踪仪(8)出射光束依次经过第一直角棱镜(12-1)和第二直角棱镜(12-2)反射并水平出射,再依次经第一五棱镜(9-1)和第二五棱镜(9-2)反射后水平出射,再依次经过第三直角棱镜(12-3)和第四直角棱镜(12-4)后水平出射,并对准激光跟踪仪反射靶镜组(14)中的激光跟踪仪反射靶镜(14-1)中心,原路返回后进入激光跟踪仪8内部干涉系统及跟踪系统;
该装置还包括位置敏感探测器组(6)和位置敏感探测器组夹具(7),位置敏感探测器组(6)由第一位置敏感探测器(6-1)和第二位置敏感探测器(6-2)组成,并由下往上依次固定在位置敏感探测器组夹具(7)上;用于调平虚拟导轨(5)和激光跟踪仪(8)光束以及调节测量光路与参考光路的平行度。
2.根据权利要求1所述的一种激光跟踪仪测长精度标定装置,其特征在于,所述虚拟导轨(5)是由一个可移动平台P(N+1)和N个相隔一定节距的固定平台Pi组成,i=1~N,固定平台Pi和可移动平台P(N+1)上分别具有可调底座,可移动平台P(N+1)在固定平台之间移动,用于转移五角棱镜组(9)或位置敏感探测器组(6),利用可调底座调节虚拟导轨(5)的直线度。
3.根据权利要求2所述的一种激光跟踪仪测长精度标定装置,其特征在于,在调平虚拟导轨(5)时,将位置敏感探测器组(6)中的第一位置敏感探测器(6-1)固定在位置敏感探测器组夹具(7)上,将位置敏感探测器组夹具(7)依次放置在固定平台Pi的可调底座上,经N次调节可调底座使双频激光干涉仪(1)的光束对准第一位置敏感探测器(6-1)中心。
4.根据权利要求2所述的一种激光跟踪仪测长精度标定装置,其特征在于,调平激光跟踪仪(8)光束时,将位置敏感探测器组(6)中的第二位置敏感探测器(6-2)固定在位置敏感探测器组夹具(7)上并位于第一位置敏感探测器(6-1)的上方,将位置敏感探测器组夹具(7)依次放在固定平台P1和固定平台PN的可调底座上,重复调节激光跟踪仪(8),使位置敏感探测器组夹具(7)在两个位置处时激光跟踪仪(8)的光束均对准第二位置敏感探测器(6-2)中心。
5.根据权利要求2所述的一种激光跟踪仪测长精度标定装置,其特征在于,调平测量光路与参考光路时,将五棱镜组(9)固定在五棱镜组夹具(10)上,并放置在虚拟导轨(5)的可调底座上,将位置敏感探测器组(6)固定在位置敏感探测器组夹具(7)上,并放置在干涉镜组夹具(4)和直角棱镜组夹具(11)之间的光学平台(2)上,调节直角棱镜组夹具(11)和五棱镜组夹具(10)使五棱镜组(9)从固定平台P1经可移动平台P(N+1)移动至固定平台PN过程中双频激光干涉仪(1)光束和激光跟踪仪(8)光束始终分别对准第一位置敏感探测器(6-1)中心和第二位置敏感探测器(6-2)中心。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于长春理工大学,未经长春理工大学许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520275677.6/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。