[实用新型]一种新型红外测温窗口有效

专利信息
申请号: 201520283668.1 申请日: 2015-05-05
公开(公告)号: CN204788672U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 侯位格 申请(专利权)人: 河北泰中岩电气设备科技有限公司
主分类号: G01J5/04 分类号: G01J5/04
代理公司: 暂无信息 代理人: 暂无信息
地址: 071051 河北*** 国省代码: 河北;13
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摘要:
搜索关键词: 一种 新型 红外 测温 窗口
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及高压电气设备内部温度测量领域,具体涉及一种新型红外测温窗口。

背景技术

红外测温窗口也称为红外线观察窗,简称“红外窗口”,是一个能够透过红外线、紫外线和可见光的光学窗口,利用红外热成像仪器进行高压电器内部连接位置的红外线扫描。红外测温窗口技术是近年发展迅速、技术先进的新型辅助测温技术,结构简单,安装简便,安全性和可靠性高,能够有效检测高压电器设备内部导电接触面及元件发热情况,及时监控内部设备运行状态,实现开关柜等高压电器设备在带电运行状态下的红外成像的实时检测。但目前的红外测温窗口的整体结构一般不够牢固,在电气设备剧烈震动等情况下,容易造成内锁紧螺母和外锁紧螺母松动脱离于法兰底座,从而导致红外光学晶体材料脱离法兰底座或红外测温窗口从电气设备上脱落。

实用新型内容

针对现有技术的不足,本实用新型旨在提供一种新型红外测温窗口,在法兰底座的后部加装安全销,以防止内外锁紧螺母因电气设备震动等原因造成松动甚至脱离于法兰底座,从而防止红外光学晶体材料从红外测温窗口从电气设备上脱落,使得整体结构更加牢固、安全。

为了实现上述目的,本实用新型采用如下技术方案:

一种新型红外测温窗口,包括红外光学晶体材料、用于镶接红外光学晶体材料的金属镶接法兰、密封圈、缓冲密封圈和保护盖,所述金属镶接法兰主要由法兰底座、内锁紧螺母、外锁紧螺母和至少一个安全销组成,其中所述红外光学晶体材料前后均设有所述缓冲密封圈,并镶接于所述法兰底座内;所述法兰底座的正面连接所述保护盖,所述内锁紧螺母和外锁紧螺母分别螺纹连接于所述法兰底座的内壁和外壁,所述法兰底座和所述外锁紧螺母之间设有所述密封圈;所述安全销两端穿过所述法兰底座并贴合于所述外锁紧螺母和所述内锁紧螺母的外表面上。

需要说明的是,所述缓冲密封圈的作用在于对红外光学晶体材料与法兰底座和内锁紧螺母的接触面间进行密封,同时也防止红外光学晶体材料被破坏。

进一步需要说明的是,外锁紧螺母的作用是通过其与法兰底座的螺纹连接将红外测温窗口固定在待测量仪器的柜体上,而密封圈的作用是完成红外测温窗口与待测量仪器的柜体之间的密封。

作为一种优选方案,位于所述法兰底座前部的观察窗口采用广角设计。

本实用新型的有益效果在于:

1、本实用新型在法兰底座后部加设至少一个安全销,进一步将外锁紧螺母、内锁紧螺母和法兰底座卡住、卡紧,防止内锁紧螺母和外锁紧螺母因电气设备震动等原因造成松动进而脱离于法兰底座,从而防止因内锁紧螺母的脱落而导致红外光学晶体材料从法兰底座上脱落,以及防止因外锁紧螺母的脱落导致红外测温窗口从电气设备上脱落,最终使得整体结构更加牢固、安全。

2、法兰底座前部的观察窗口采用广角设计,扩大了观察范围,增强红外测温窗口的观察效果。

附图说明

图1为本实用新型的结构示意图;

图2为图1中法兰底座、外锁紧螺母、内锁紧螺母和安全销的连接示意图。

具体实施方式

以下将结合附图对本实用新型作进一步的描述,需要说明的是,本实施例以本技术方案为前提,给出了详细的实施方式和具体的操作过程,但本实用新型的保护范围并不限于本实施例。

如图1、图2所示,一种新型红外测温窗口,包括红外光学晶体材料6、金属镶接法兰、缓冲密封圈5、密封圈8和保护盖1,所述金属镶接法兰主要由法兰底座2、内锁紧螺母4、外锁紧螺母3、安全销7组成,其中所述红外光学晶体材料6前后均设有所述缓冲密封圈5,并镶接于所述法兰底座2内;所述法兰底座2的正面连接所述保护盖1,所述内锁紧螺母4的外壁设有外螺纹41,而所述法兰底座2的内壁设有内螺纹22,所述内锁紧螺母4通过外螺纹41和内螺纹22与所述法兰底座2螺纹连接,并位于红外光学晶体材料6的后方。所述外锁紧螺母3的内壁设有内螺纹31,螺纹连接于所述法兰底座2外壁所设的外螺纹21,且外锁紧螺母3和法兰底座2之间设有所述密封圈8。所述安全销7两端穿过所述法兰底座2并贴合于所述外锁紧螺母3和所述内锁紧螺母4的外表面上。

更进一步地,位于所述法兰底座2前部的观察窗口23采用广角设计。

本实用新型可用于10kV~35kV交流金属封闭开关设备(简称开关柜)及城市环网柜、开闭所、电缆分接箱、高压计量箱、电厂风机、泵机、磨煤机等的电机接线盒、变压器箱体、变压器接线盒、GIS高压设备、电机控制中心、端子箱等高压电器设备内部容易发热部分的温度测量,以及其他需要在密闭环境下进行红外测温或红外成像检测的现场。

对于本领域的技术人员来说,可以根据以上的技术方案和构思,给出各种相应的改变和变形,而所有的这些改变和变形都应该包括在本实用新型权利要求的保护范围之内。

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