[实用新型]光耦器件的电性能测试夹持工装有效
申请号: | 201520287589.8 | 申请日: | 2015-05-06 |
公开(公告)号: | CN204740265U | 公开(公告)日: | 2015-11-04 |
发明(设计)人: | 刘凯;茆健 | 申请(专利权)人: | 常州银河世纪微电子有限公司 |
主分类号: | G01R1/04 | 分类号: | G01R1/04 |
代理公司: | 常州市天龙专利事务所有限公司 32105 | 代理人: | 夏海初 |
地址: | 213022 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 器件 性能 测试 夹持 工装 | ||
技术领域
本实用新型具体涉及一种光耦器件的电性能测试夹持工装,属于用来测试光耦器件电性能的辅助工装。
背景技术
现有的光耦器件在出厂之前需要进行各方面的电性能测试,所述的电性能测试包括耐压测试、电流测试等等,必须满足技术要求,才能出厂销售。
目前,光耦器件进行电性能测试时,是将器件直接通过同轴测试线与测试仪器电连接的,器件与同轴测试线是焊接连接,每次对光耦器件在测试后,还需将光耦器件与同轴测试线相分离,这样,不仅耗时耗力,使得测试效率低,而且测试也不方便,不适合批量测试。
发明内容
本实用新型的目的是:提供一种不仅结构简单,而且便于夹持工件,又省时省力,工作效率又高的光耦器件的电性能测试夹持工装,以克服现有技术的不足。
为了达到上述目的,本实用新型的技术方案是:一种光耦器件的电性能测试夹持工装,包括第一测试片组、第二测试片组和绝缘胶壳,所述绝缘胶壳具有与其互为一体的测试夹持台,所述第一测试片组和第二测试片组分开布置且各自的中间段均被塑封在绝缘胶壳内,且第一测试片组和第二测试片组的一端分别贴合在绝缘胶壳的测试夹持台的两面,第一测试片组和第二测试片组的另一端分别设有绝缘条。
在上述技术方案中,所述第一测试片组和第二测试片组均各由四条金属片构成,且四条金属片等间距分开布置,所述绝缘条设在四条金属片上。
在上述技术方案中,所述绝缘胶壳有与测试仪器的测试基座定位配装的定位凹槽。
在上述技术方案中,所述第一测试片组和第二测试片组另一端的端部均有与其互为一体的折弯段。
在上述技术方案中,所述绝缘胶壳是由环氧树脂制成的绝缘胶壳、或是由黑胶制成的绝缘胶壳。
本实用新型所具有的积极效果是:采用本实用新型后,使用时,所述绝缘胶壳的测试夹持台上的第一测试片组和第二测试片组的一端与同轴测试线的一端电连接,同轴测试线的另一端与测试仪器电连接,然后只需将光耦器件夹持在第一测试片组和第二测试片组之间,且第一测试片组和第二测试片组的另一端分别与光耦器件相应的引线搭接即可,即可实施对光耦器件的电性能测试,待该器件测试完毕后,最后再更换剩余的待测试器件,这样,就节省了逐个将光耦器件分别与同轴线连接的时间,不仅省时省力、便于夹持器件,而且工作效率高,同时,本实用新型不仅结构简单,而且操作方便,适用于批量检测光耦器件,实现了本实用新型的目的。
附图说明
图1是本实用新型一种具体实施方式的结构示意图;
图2是图1的俯视示意图;
图3是图1的全剖示意图。
具体实施方式
以下结合附图以及给出的实施例,对本实用新型作进一步的说明,但并不局限于此。
如图1、2、3所示,一种光耦器件的电性能测试夹持工装,包括第一测试片组1、第二测试片组2和绝缘胶壳3,所述绝缘胶壳3具有与其互为一体的测试夹持台3-1,所述第一测试片组1和第二测试片组2分开布置且各自的中间段均被塑封在绝缘胶壳3内,且第一测试片组1和第二测试片组2的一端分别贴合在绝缘胶壳3的测试夹持台3-1的两面,第一测试片组1和第二测试片组2的另一端分别设有绝缘条4。
如图2所示,为了使得本实用新型更加合理,所述第一测试片组1和第二测试片组2均各由四条金属片1-1、2-1构成,且四条金属片1-1、2-1等间距分开布置,所述绝缘条4设在四条金属片1-1、2-1上。当然,并不局限于此,所述第一测试片组1和第二测试片组2也可以是一条或两条或三条或五条金属片组成。
如图1所示,为了便于与测试仪器基座定位配装,所述绝缘胶壳3有与测试仪器的测试基座定位配装的定位凹槽3-2。
如图1、3所示,为了便于与光耦器件的引脚相搭接,所述第一测试片组1和第二测试片组2另一端的端部均有与其互为一体的折弯段1-2、2-2。
为了使得绝缘胶壳3的绝缘性能好,所述绝缘胶壳3是由环氧树脂制成的绝缘胶壳、或是由黑胶制成的绝缘胶壳。
本实用新型使用时,所述绝缘胶壳3的测试夹持台3-1上的第一测试片组1和第二测试片组2的一端与同轴测试线的一端电连接,同轴测试线的另一端与测试仪器(分立器件参数测试仪)电连接,然后只需将光耦器件夹持在第一测试片组1和第二测试片组2之间,且第一测试片组1和第二测试片组2的另一端分别与光耦器件相应的引线搭接即可,即可实施对光耦器件的电性能测试,待该器件测试完毕后,最后再更换剩余的待测试器件。
本实用新型小试结果显示,其效果是很好的,本实用新型不仅结构简单,而且操作方便,又省时省力,工作效率又高。
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