[实用新型]一种自动微调机的测试头

说明书

技术领域

本实用新型属于制造石英晶体元件的设备技术领域，具体是一种自动微调机的测试头。

背景技术

石英晶体谐振器在制造过程中，需通过微调机对其进行频率调试。调试时，微调机测试头上的探针对物料进行频率测试。目前自动微调机都是进行分段调试，即要通过多段的反复调试测试最终达到目标频率。然而，在测试过程中经常会有测试头下降测试时，探针将物料打翻的现象；另外，在测试完成后探针上升的过程中，还会将物料一并带起。这样不利于下一段微调的继续测试，同时物料打乱后散落在设备里，不利于微调载条的搬送，增加了设备的故障率，影响微调测试精度与微调效率。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有技术的不足，提供一种自动微调机的测试头,能有效解决探针下降测试时打翻物料和探针上升过程中粘起物料的现象，保证微调载条搬送的顺畅性，提高微调测试精度与微调效率。

本实用新型采用以下技术方案实现：

一种自动微调机的测试头，包括固定座，其特征是：固定座设有探针，固定座上设置固定套筒，挡片固定在挡片固定杆上，挡片固定杆放置在固定套筒内，挡片固定杆与固定套筒之间通过弹簧支撑。

本实用新型所述挡片上设置有能使探针穿过的通孔，通孔的数量和位置与探针的数量和位置相匹配。

本实用新型探针通过探针固定板固定在固定座上。

本实用新型使用时，固定座下降，挡片最先接触到测试物料，并对物料进行压力固定，挡片固定杆上升，弹簧压缩，继而探针继续下降穿过挡片上的通孔对物料进行测试。测试完成后，固定座上升，探针也随之上升，探针离开产品后，挡片才开始上升，弹簧伸展，一个产品测试结束。微调物料载条运动到下一位置，测试头重复以上的测试过程继续测试调试。

本实用新型由于采用上述技术方案，在测试前运用测试头上自带的挡板对物料进行固定，然后探针进行接触测试动作，保证了物料位置的固定性，提高了探针的测试精度；测试完成后，探针先离开物料，挡片后离开物料，解决了探针上升过程中将物料粘起的问题，使微调机搬送载条更加顺畅，提高了微调测试精度与微调效率。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图。

图2是本实用新型的挡片示意图。

具体实施方式

下面参照附图对本实用新型的具体实施方式做进一步说明。

如图1所示，一种自动微调机的测试头，包括固定座1，其特征在于：固定座1上设置有探针固定板3和固定套筒4；探针固定板3上装有探针8；挡片固定杆5放置在固定套筒4内；挡片固定杆5与固定套筒4之间通过弹簧6支撑；如图2所示，所述挡片2上设置有能使探针穿过的通孔9；挡片2通过固定螺丝7固定在挡片固定杆5上。

本实用新型使用时，固定座1下降，挡片2最先接触到测试物料，并对物料进行压力固定，挡片固定杆5上升，弹簧6压缩，继而探针8继续下降通过挡片2上的通孔9对物料进行测试。测试完成后，固定座1上升，探针8也随之上升，探针8离开产品后，挡片2才开始上升，弹簧6伸展，一个产品测试结束。微调物料载条运动到下一位置，测试头重复以上的测试过程继续测试调试。

本实用新型由于采用上述技术方案，在测试前运用测试头上自带的挡板对物料进行固定，然后探针进行接触测试动作，保证了物料位置的固定性，提高了探针的测试精度；测试完成后，探针先离开物料，挡片后离开物料，解决了探针上升过程中将物料粘起的问题，使微调机搬送载条更加顺畅，提高了微调测试精度与微调效率。