[实用新型]一种IGBT芯片的结构有效
申请号: | 201520293869.X | 申请日: | 2015-05-08 |
公开(公告)号: | CN204706564U | 公开(公告)日: | 2015-10-14 |
发明(设计)人: | 邓华鲜 | 申请(专利权)人: | 邓华鲜 |
主分类号: | H01L27/06 | 分类号: | H01L27/06 |
代理公司: | 成都天嘉专利事务所(普通合伙) 51211 | 代理人: | 毛光军 |
地址: | 614000 四*** | 国省代码: | 四川;51 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 igbt 芯片 结构 | ||
1.一种IGBT芯片的结构,包括MOS场效应晶体管和三极管组成的IGBT单元,其特征在于:还包括控制开关Q、电极N2+和隔离罩,所述IGBT单元设置在隔离罩内,隔离罩设置在电极N2+内,控制开关Q分别与电极N2+和三极管连接。
2.根据权利要求1所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:当IGBT单元处于正向导通时,所述控制开关Q处于关闭状态,PN结J2处于反向偏置状态,J1处于正偏状态。
3.根据权利要求2所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:当IGBT单元处于反向导通时,所述控制开关Q处于开启状态,PN结J1处于反偏状态,PN结J2处于正偏状态,P+形成电子流出受阻的势垒,电极N2+和控制开关Q连接的电路形成电子流出通路。
4.根据权利要求3所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:所述IGBT单元反向导通时,电极N2+、耗尽区N-和P形成一个二极管,二极管的N端连接在三极管的集电极P+,二极管的P端与三极管的发射极连接。
5.根据权利要求4所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:所述IGBT单元与隔离罩内壁相接触,隔离罩外壁与电极N2+内壁相接触。
6.根据权利要求5所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:所述隔离罩为由同一种绝缘材料制成的呈筒状的隔离罩。
7.根据权利要求1、2、3、4、5 或6所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:所述隔离罩包括绝缘填充料和位于绝缘填充料表面的氧化层,绝缘填充料的膨胀系数与IGBT本体材料的膨胀系数接近。
8.根据权利要求1所述的一种IGBT芯片的结构,其特征在于:所述控制开关Q与三极管的集电极P+连接。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的