[实用新型]微电阻测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及电阻测试领域，尤其涉及一种微电阻测试装置。

背景技术

众所周知，所有的电子电气设备或控制系统都要用到印刷线路板，为确保线路板不发生开路或短路，印刷线路板在出货前均需通过PCB测试机的测试，将不合格的线路板检出。

随着电子技术的迅猛发展，印制线路板(PCB)的制作层数越来越高、线路密度越来越密、焊盘尺寸越做越小，客户对板的要求越来越严，尤其是PCB的安全性与稳定性，比如说关乎生命安全的汽车板，心系国防的航天控制系统电子板等。普通的两端子测试机，通常采用的是断线测试方法，是由已知的排线阻抗、电子控制阻抗及接触阻抗再加上被测PCB之阻抗植，所以无法测出被测PCB内真正的阻抗，以致孔内微小缺陷及线路微小缺口，更是无法被检测出来。当线路阻值小于20Ω时，已基本成为它的测试盲区。在实际生产中发现PCB的某些缺陷，如孔内无铜、空洞、铜薄、线幼、线路缺口等问题均会影响到线路阻值，当阻值小于20Ω时测试结果显示PASS，但客户经过高温焊接后阻值发生变化，导致开路问题发生，最终导致客户投诉，严重的还需向客户赔款。

现有的印刷线路板测试机电子卡主要有以下几种：双倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为70mil)，四倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为50mil)，六倍密通用测试机电子卡(标准网格间距为39.3mil)。上述设备能满足一般印刷电路板的测试要求，但在实际测试过程中不能针对批量电路板的测试，且测试精度不高。

实用新型内容

本实用新型的目的在于提供一种有效提高测试精度的微电阻测试装置。

为了解决上述技术问题，本实用新型提供了一种微电阻测试装置，其中，所述微电阻测试装置包括一个电压检测模块、一个电流输出模块、多个内接端口、多个开关模块和多个外接端口，所述多个内接端口并联于所述电压检测模块和所述电流输出模块之间，所述多个开关模块的一端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个外接端口分别对应连接所述多个开关模块的另一端，所述多个外接端口用以通过测试夹具的连线及其探针连接多个待测试电阻。

其中，所述微电阻测试装置包括一组测试电路板，所述电压检测模块和所述电流输出模块集成于所述测试电路板上，所述测试电路板设置有并联所述电压检测模块和所述电流输出模块的测试接入端口，所述多个内接端口均电连接所述测试接入端口。

其中，所述微电阻测试装置还包括转接电路板组件，所述转接点板组件包括第一转接板和第二转接板，所述第一转接板和所述第二转接板相对设置，所述第一转接板设置有并接电路，所述并接电路包括一个连接端和多个并行端，所述多个并行端连接于所述一个连接端，所述连接端设置于所述第一转接板背离所述第二转接板一侧，所述多个并行端设置于所述第一转接板靠近所述第二转接板一侧，所述第二转接板设置多个并列的插接件，所述多个插接件的一端分别对应连接所述多个并行端，所述多个插接件的另一端穿过所述第二转接板，并分别对应设置多个所述内接端口。

其中，所述测试装置还包括多个开关电路板，所述多个开关模块分别对应集成于所述多个开关电路板上，所述多个开关电路板并列设置，所述多个开关电路板均包括一个开关接入端和一个开关接出端，所述多个开关电路板的开关接入端分别对应连接所述多个内接端口，所述多个开关电路板的开关接出端分别对应设置多个所述外接端口。

其中，所述微电阻测试装置还包括一个外接针盘，所述外接针盘包括相对设置第一侧和第二侧，所述第一侧设置多个引脚，每一引脚对应插接每一所述针管，所述第二侧设置多个弹簧针，每一弹簧针穿过所述外接针盘与每一所述引脚对应连接，多个所述弹簧针用于与多个待测试电阻连接。

其中，所述微电阻测试装置还包括线路转接板，所述线路转接板相对所述外接针盘滑动设置，所述测试版包括相对设置的第一连接侧和第二连接侧，所述第一连接侧设置多个触点，多个所述触点与多个所述弹簧针相对应，所述第二连接侧对应所述多个触点连接有多根线缆，多根所述线缆远离所述线路转接板的另一端连接多个探针，多个所述探针用于连接所述待测试电阻。

其中，所述微电阻测试装置还包括测试测试夹具，所述测试夹具用于固定待测试电路板，多个所述待测试电阻集成于所述待测试电路板上，多个所述探针设置于所述测试夹具上，用于接触多个所述待测试电阻。

其中，所述电压检测模块包括一个电压测试电路，所述电压测试电路用于测试所述待测试电阻两端的电压，所述电流输出模块包括一个电流源，所述电流源用于向所述待测试电阻输出恒定电流。