[实用新型]去毛刺检测工装

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种去毛刺检测工装，尤其涉及一种电子设备零部件微细缝槽的去毛刺检测工装。

背景技术

电子设备是指由集成电路、晶体管、电子管等电子元器件组成，应用电子技术（包括）软件发挥作用的设备，是精密度要求极高的设备。因此在生产中，其零部件的精密度要很高，不能存在毛刺。精密的电子零部件的毛刺一般肉眼不可见，现有技术中，电子设备零部件去毛刺多采用超声波去毛刺设备，它的优点是效率高，对零部件的伤害小，但是毛刺是否去除干净无法观察，也无法保障，存在去毛刺可能不彻底的缺点。

实用新型内容

本实用新型针对以上问题，提供了一种检测超声波去毛刺设备的去毛刺效果、并去除残留毛刺的去毛刺检测工装。

本实用新型的技术方案是：包括支撑装置、影像放大仪和显示器，所述影像放大仪固定在所述支撑装置上，所述支撑装置包括底座、支架一、支架二、滑块一和螺栓，所述底座上设有凹槽和处理台，所述处理台活动连接在所述凹槽中；所述处理台上设有固定块一、固定块二、滑块二和收紧杆，所述固定块一和所述固定块二分别设在所述处理台的两端，所述固定块二上设有通孔，所述收紧杆穿过所述通孔连接所述滑块二。

所述固定块二上的通孔为内螺纹孔，所述收紧杆上设有与所述内螺纹孔适配的外螺纹。

所述支架一垂直固定在所述底座上；

所述滑块一上设有垂直的通孔，所述滑块一通过所述通孔与所述支架一连接；

所述滑块一通过螺栓连接在所述支架一上；

所述支架二一端固定在所述滑块一上，另一端固定连接有所述影像放大仪。

所述影像放大仪通过数据线与所述显示器连接。

还包括刷子。

本实用新型的有益效果是：通过影像放大仪将样品的影像采集放大后显示到显示器上，将不可见的细小毛刺变得肉眼可见，如果发现残留毛刺，再用刷子仔细去除，使毛刺去除更加彻底；在处理台上设置拧紧装置，可一次将若干样品固定在处理台上进行处理，提高处理的效率，处理台可在底座上滑动，便于影像放大仪对准样品。

附图说明

图1是本实用新型的结构示意图，

图2是本实用新型中处理台的结构示意图；

图中1是底座，11是凹槽，2是处理台，21是固定块一，22是固定块二，23是滑块二，24是收紧杆，3是支架一，4是滑块一，5是螺栓，6是支架二，7是影像放大仪 。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型作具体说明。

如图1所示，去毛刺检测工装包括支撑装置、影像放大仪7和显示器，所述影像放大仪7固定在所述支撑装置上，所述支撑装置包括底座1、支架一3、支架二6、滑块一4和螺栓5，所述底座1上设有凹槽11和处理台2，所述处理台2活动连接在所述凹槽11中，影像放大仪7每次对准一个待处理的样品，处理好后，通过滑动处理台2，将下一个固定在处理台2上的样品移至影像放大仪7下进行毛刺的检测和去除处理；

如图2所示，所述处理台2上设有固定块一21、固定块二22、滑块二23和收紧杆24，所述固定块一21和所述固定块二22分别设在所述处理台2的两端，所述固定块二22上设有通孔，所述收紧杆24穿过所述通孔连接所述滑块二23，放置样品前，先将滑块二23与固定块22紧贴，若干待处理的样品置于固定块一21和滑块二23之间，拧紧收紧杆24，使样品固定在处理台2上。

所述固定块二22上的通孔为内螺纹孔，所述收紧杆24上设有与所述内螺纹孔适配的外螺纹，便于样品的固定和松开。

所述支架一3垂直固定在所述底座1上；所述滑块一4上设垂直的有通孔，所述滑块一4通过所述通孔与所述支架一3连接；

所述滑块一4上设有让螺栓5通过的螺纹孔，通过螺栓5连接在所述支架一3上，拧紧所述螺栓5后所述滑块一4固定在所述支架一3上，松开所述螺栓5后所述滑块一4可在所述支架一3上升降或360°旋转；

所述支架二6一端固定在所述滑块一4上，另一端固定连接有所述影像放大仪7，目的是使影像放大仪7与支架一3连接，通过调节滑块一4在支架一3上的位置来使影像放大仪7处于合适的位置。

所述影像放大仪7通过数据线与所述显示器连接，肉眼难见的毛刺的影像经影像放大仪7采集放大后通过数据线传输到显示器上显示，这样可以将样品的细小部位放大，检测内部是否有毛刺残留，如果有，用刷子仔细去除。

本实用新型使用时，先调节螺栓5至影像放大仪7处于合适的位置，然后将若干待处理样品并列固定于处理台2上，观察显示器，滑动处理台2使第一个样品处于影像放大仪7的下方，检测其是否有毛刺残留，如果看到毛刺，用刷子仔细去除，然后再滑动处理台2使第二个样品处于影像放大仪7的下方，进行毛刺残留的检测和处理，依次处理剩下的样品，待处理台2上的样品处理完后，松开收紧杆24，拿下处理好的样品，再放入待处理的样品，继续工作。本实用新型将肉眼难以见到的微细毛刺的影像经影像放大仪7采集放大后显示到显示器上，使肉眼可见，检测到有残留，用刷子仔细去除；将处理台2设置成可滑动的，并可一次放置若干样品，减少重复放置样品的次数，提高处理效率。