[实用新型]高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构有效
申请号: | 201520320946.6 | 申请日: | 2015-05-18 |
公开(公告)号: | CN204760384U | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 万里兮;项敏;翟玲玲;钱静娴;马力 | 申请(专利权)人: | 华天科技(昆山)电子有限公司 |
主分类号: | H01L27/146 | 分类号: | H01L27/146 |
代理公司: | 昆山四方专利事务所 32212 | 代理人: | 盛建德;段新颖 |
地址: | 215300 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 像素 影像 传感 芯片 晶圆级 封装 结构 | ||
1.一种高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构,其特征在于:包括一影像传感芯片(9)和一硅基板(1),该影像传感芯片包括一基底(8)、形成于该基底的第一表面的感测区(903)及位于所述感测区周边的若干焊垫(902);所述硅基板具有第一表平面(101)及与其相对的第二表平面(102),所述硅基板的第二表平面粘贴于所述基底的第一表面,所述硅基板对应感测区位置设有一贯通所述硅基板的开口(2),所述开口的底部暴露出该感测区;所述硅基板第一表面开口顶部固定有一透光基板(7),所述透光基板平面尺寸大于开口且小于硅基板第一表平面,所述透光基板的两个表平面平行或接近平行于所述感测区所在平面。
2.根据权利要求1所述的高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构,其特征在于,所述开口侧壁与所述感测区所在平面的二面角α的范围为:40°≤α≤130°。
3.根据权利要求1所述的高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构,其特征在于,所述硅基板厚度范围为100μm~500μm。
4.根据权利要求1所述的高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构,其特征在于,所述透光基板为IR光学镀膜玻璃。
5.根据权利要求1所述的高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构,其特征在于,所述硅基板的第一表平面刻有至少一条连通所述开口与所述基板边缘空间的通气槽(4)。
6.根据权利要求1所述的高像素影像传感芯片的晶圆级封装结构,其特征在于,所述基底的第二表面形成有暴露所述焊垫的通道(10),所述通道及所述基底的第二表面上形成有暴露焊垫的绝缘层(11),所述绝缘层及焊垫暴露面上形成有将所述焊垫的电性引至所述基底的第二表面上的金属布线层(12),所述金属布线层上形成有用于防止金属布线层氧化或腐蚀的保护层(13)。
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H01L 半导体器件;其他类目中不包括的电固体器件
H01L27-00 由在一个共用衬底内或其上形成的多个半导体或其他固态组件组成的器件
H01L27-01 .只包括有在一公共绝缘衬底上形成的无源薄膜或厚膜元件的器件
H01L27-02 .包括有专门适用于整流、振荡、放大或切换的半导体组件并且至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的;包括至少有一个跃变势垒或者表面势垒的无源集成电路单元的
H01L27-14 . 包括有对红外辐射、光、较短波长的电磁辐射或者微粒子辐射并且专门适用于把这样的辐射能转换为电能的,或适用于通过这样的辐射控制电能的半导体组件的
H01L27-15 .包括专门适用于光发射并且包括至少有一个电位跃变势垒或者表面势垒的半导体组件
H01L27-16 .包括含有或不含有不同材料结点的热电元件的;包括有热磁组件的