[实用新型]利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路有效

专利信息
申请号: 201520346506.8 申请日: 2015-05-26
公开(公告)号: CN204666777U 公开(公告)日: 2015-09-23
发明(设计)人: 陈文萍;韦文生;李求泉;徐啸;魏佳莹 申请(专利权)人: 温州大学
主分类号: G01R31/26 分类号: G01R31/26
代理公司: 温州瓯越专利代理有限公司 33211 代理人: 陈加利
地址: 325000 浙*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 利用 反向 恢复 电流 测量 半导体 双向 开关 载流子 寿命 电路
【权利要求书】:

1.一种利用反向恢复电流测量半导体双向开关载流子寿命的电路,其与被测半导体双向开关相配合,其特征在于,所述电路包括功率脉冲发生器(M1)、采样脉冲发生器(M2)、第一场效应管(FET1)、三极管(Q1)、第一电阻(R1)、第二电阻(R2)、第三电阻(R3)、积分电容(C)以及电压表(J);其中,

所述功率脉冲发生器(M1)的负极与所述被测半导体双向开关的第一端及所述采样脉冲发生器(M2)的正极相连后接地,所述功率脉冲发生器(M1)的正极与所述第一场效应管(FET1)的源极相连;

所述第一场效应管(FET1)的漏极通过所述第二电阻(R2)与所述被测半导体双向开关的第三端(a3)相连,且还通过所述第三电阻(R3)与所述三极管(Q1)的基极相连,所述第一场效应管(FET1)的栅极通过所述第一电阻(R1)与所述被测半导体双向开关的第二端(a2)相连;

所述三极管(Q1)的集电极与所述电压表(J)的正极相连,且还通过所述积分电容(C)与所述采样脉冲发生器(M2)的负极相连,所述三极管(Q1)的发射极与所述被测半导体双向开关的第三端(a3)相连。

2.如权利要求1所述的电路,其特征在于,所述电路还包括用于稳定所述第一场效应管(FET1)栅极侧的驱动器。

3.如权利要求2所述的电路,其特征在于,所述驱动器包括第二场效应管(FET2)、第一整流二极管(D1)、第二整流二极管(D2)、电压负反馈延时网络(Td)、运算放大器(U1)、滤波电容(C1)、电感(L1)及第三场效应管(FET3);

其中,所述第二场效应管(FET2)的栅极连接所述功率脉冲发生器(M1)的正极,第二场效应管(FET2)的源极接所述电压负反馈延时网络(Td)的输入端,所述第一整流二极管(D1)与第二整流二极管(D2)串联后与所述运算放大器(U1)的反相端相连,所述第一整流二极管(D1)还通过所述电感(L1)与所述第三场效应管(FET3)的漏极及第一场效应管(FET1)的栅极相连;

所述运算放大器(U1)的同相端连接参考电压(Vref),所述运算放大器(U1)的输出端通过所述电压负反馈延时网络(Td)与所述第三场效应管(FET3)的栅极相连。

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