[实用新型]双通道相位差测量系统有效

专利信息
申请号: 201520346613.0 申请日: 2015-05-26
公开(公告)号: CN204595094U 公开(公告)日: 2015-08-26
发明(设计)人: 陈志明 申请(专利权)人: 中国电子科技集团公司第十四研究所
主分类号: G01R25/00 分类号: G01R25/00
代理公司: 南京知识律师事务所 32207 代理人: 高娇阳
地址: 210039 江*** 国省代码: 江苏;32
权利要求书: 查看更多 说明书: 查看更多
摘要:
搜索关键词: 双通道 相位差 测量 系统
【权利要求书】:

1.一种双通道相位差测量系统,其特征在于:包括输入端A,输入端B,90度功分器,0度功分器,第一RF/IF相位测量芯片AD8302,第二RF/IF相位测量芯片AD8302,模数转换器A/D,EPLD,单片机,显示器;

输入端A、输入端B分别连接90度功分器、0度功分器,90度功分器与第一RF/IF相位测量芯片AD8302和第二RF/IF相位测量芯片AD8302进行信号连接,0度功分器也与第一RF/IF相位测量芯片AD8302和第二RF/IF相位测量芯片AD8302进行信号连接,第一RF/IF相位测量芯片AD8302和第二RF/IF相位测量芯片AD8302与模数转换器A/D进行信号连接,模数转换器A/D与EPLD进行信号连接,EPLD与单片机进行信号连接,单片机与显示器进行信号连接;

被测量设备二个通道的输出信号分别送入输入端A,输入端B,其中进入输入端A的信号经90度功分器输出,一路90度移相输出信号A1,另一路0度相位输出信号A2;进入输入端B的信号经0度功分器分别输出信号B1和B2;信号A1和信号B1进入第一RF/IF相位测量芯片AD8302进行鉴相、信号A2和信号B2进入第二RF/IF相位测量芯片AD8302进行鉴相,第一和第二RF/IF相位测量芯片AD8302输出相位差电压;再经模数转换器A/D转换成数字信号送给EPLD,EPLD对送来的数据进行处理,形成相位差值,最后送给单片机,经单片机处理后送给显示器进行显示。

2.根据权利要求1所述的一种双通道相位差测量系统,其特征在于:所述的模数转换器A/D采用AD10242,EPLD采用EPM7512AE,单片机采用AT89C52,显示器采用点阵型液晶MSP-G320240DBC。

下载完整专利技术内容需要扣除积分,VIP会员可以免费下载。

该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国电子科技集团公司第十四研究所,未经中国电子科技集团公司第十四研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服

本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520346613.0/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。

×

专利文献下载

说明:

1、专利原文基于中国国家知识产权局专利说明书;

2、支持发明专利 、实用新型专利、外观设计专利(升级中);

3、专利数据每周两次同步更新,支持Adobe PDF格式;

4、内容包括专利技术的结构示意图流程工艺图技术构造图

5、已全新升级为极速版,下载速度显著提升!欢迎使用!

请您登陆后,进行下载,点击【登陆】 【注册】

关于我们 寻求报道 投稿须知 广告合作 版权声明 网站地图 友情链接 企业标识 联系我们

钻瓜专利网在线咨询

周一至周五 9:00-18:00

咨询在线客服咨询在线客服
tel code back_top