[实用新型]双通道相位差测量系统有效
申请号: | 201520346613.0 | 申请日: | 2015-05-26 |
公开(公告)号: | CN204595094U | 公开(公告)日: | 2015-08-26 |
发明(设计)人: | 陈志明 | 申请(专利权)人: | 中国电子科技集团公司第十四研究所 |
主分类号: | G01R25/00 | 分类号: | G01R25/00 |
代理公司: | 南京知识律师事务所 32207 | 代理人: | 高娇阳 |
地址: | 210039 江*** | 国省代码: | 江苏;32 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 双通道 相位差 测量 系统 | ||
1.一种双通道相位差测量系统,其特征在于:包括输入端A,输入端B,90度功分器,0度功分器,第一RF/IF相位测量芯片AD8302,第二RF/IF相位测量芯片AD8302,模数转换器A/D,EPLD,单片机,显示器;
输入端A、输入端B分别连接90度功分器、0度功分器,90度功分器与第一RF/IF相位测量芯片AD8302和第二RF/IF相位测量芯片AD8302进行信号连接,0度功分器也与第一RF/IF相位测量芯片AD8302和第二RF/IF相位测量芯片AD8302进行信号连接,第一RF/IF相位测量芯片AD8302和第二RF/IF相位测量芯片AD8302与模数转换器A/D进行信号连接,模数转换器A/D与EPLD进行信号连接,EPLD与单片机进行信号连接,单片机与显示器进行信号连接;
被测量设备二个通道的输出信号分别送入输入端A,输入端B,其中进入输入端A的信号经90度功分器输出,一路90度移相输出信号A1,另一路0度相位输出信号A2;进入输入端B的信号经0度功分器分别输出信号B1和B2;信号A1和信号B1进入第一RF/IF相位测量芯片AD8302进行鉴相、信号A2和信号B2进入第二RF/IF相位测量芯片AD8302进行鉴相,第一和第二RF/IF相位测量芯片AD8302输出相位差电压;再经模数转换器A/D转换成数字信号送给EPLD,EPLD对送来的数据进行处理,形成相位差值,最后送给单片机,经单片机处理后送给显示器进行显示。
2.根据权利要求1所述的一种双通道相位差测量系统,其特征在于:所述的模数转换器A/D采用AD10242,EPLD采用EPM7512AE,单片机采用AT89C52,显示器采用点阵型液晶MSP-G320240DBC。
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