[实用新型]一种能够防止击穿的智能仪表

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种智能仪表，尤其涉及一种能够防止击穿的智能仪表。

背景技术

过去若干年以来，技术快速发展，而随着各种便携式个人通信设备与家用电器设备的增加，人们享受蜂窝移动通信系统带来的便利的同时，对安全性能又提出了新的需求，由于智能仪器一开始就显示它强大的生命力，目前已成为仪器仪表发展的一个主导方向，它的不断发展对自动控制、电子技术、国防工程、航天技术与科学试验等将产生极其深远的影响；而面对工业领域复杂的环境要求，如何针对智能仪表提高耐压防击穿、并滤除高频干扰的需求也是越来越高。

发明内容

本实用新型所要解决的技术问题是需要提供一种能够提高耐压以防止击穿、并且能够滤除高频干扰的智能仪表。

对此，本实用新型提供一种能够防止击穿的智能仪表，包括：存储模块、按键模块、采样模块、计量模块、显示模块、MCU、电源模块和通讯模块，所述存储模块、按键模块、计量模块、显示模块、电源模块和通讯模块分别与MCU相连接，所述采样模块通过计量模块连接至MCU；其中，所述采样模块包括A相电压采样衰减单元、A相电压采样滤波单元、B相电压采样衰减单元、B相电压采样滤波单元、C相电压采样衰减单元和C相电压采样滤波单元，所述A相电压采样滤波单元通过A相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述B相电压采样滤波单元通过B相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述C相电压采样滤波单元通过C相电压采样衰减单元连接至外部被测的交流电压，所述A相电压采样滤波单元、B相电压采样滤波单元和C相电压采样滤波单元分别连接至计量模块。

本实用新型的进一步改进在于，所述A相电压采样衰减单元包括串联连接的电阻R1、电阻R2、电阻R3、电阻R4、电阻R5、电阻R6、电阻R7和电阻R8，所述外部被测的交流电压的A相电压连接至电阻R1，所述电阻R8连接至A相电压采样滤波单元。所述A相电压采样衰减单元采用共8个0805封装的贴片电阻，是因为通常0805封装电阻的瞬时耐压约为150V，8个电阻串联所能承受的瞬时耐压约为1200V，而选用8个0805封装的电阻串联是根据产品成本、PCB的布板空间和实际使用情况作出较佳的选择。

本实用新型的进一步改进在于，所述A相电压采样滤波单元包括电容C11、电阻R31、电阻R27、电阻R33、电容C9和电容C13，所述电阻R8分别连接至电容C11和电阻R31，所述电容C11和电阻R31并联， 所述电阻R31的一端与电阻R27的一端相连接，所述电阻R31的另一端与电阻R33的一端相连接，所述电阻R27的另一端连接至电容C9的一端，所述电阻R33的另一端连接至电容C13的一端，所述电容C9的另一端与电容C13的另一端分别接地。

本实用新型的进一步改进在于，所述B相电压采样衰减单元包括串联连接的电阻R9、电阻R10、电阻R11、电阻R12、电阻R13、电阻R14、电阻R15和电阻R16，所述外部被测的交流电压的B相电压连接至电阻R9，所述电阻R16连接至B相电压采样滤波单元。本实用新型所述B相电压采样衰减单元采用共8个0805封装的贴片电阻，是因为通常0805封装电阻的瞬时耐压约为150V，8个电阻串联所能承受的瞬时耐压约为1200V，而选用8个0805封装的电阻串联是根据成本、PCB的布板空间和实际使用情况所作出的较佳选择。

本实用新型的进一步改进在于，所述B相电压采样滤波单元包括电容C10、电阻R32、电阻R28、电阻R34、电容C7和电容C14，所述电阻R16分别连接至电容C10和电阻R32，所述电容C10和电阻R32并联， 所述电阻R32的一端与电阻R28的一端相连接，所述电阻R32的另一端与电阻R34的一端相连接，所述电阻R28的另一端连接至电容C7的一端，所述电阻R34的另一端连接至电容C14的一端，所述电容C7的另一端与电容C14的另一端分别接地。

本实用新型的进一步改进在于，所述C相电压采样衰减单元包括串联连接的电阻R17、电阻R18、电阻R19、电阻R20、电阻R21、电阻R22、电阻R23和电阻R24，所述外部被测的交流电压的B相电压连接至电阻R17，所述电阻R24连接至C相电压采样滤波单元。本实用新型所述C相电压采样衰减单元采用共8个0805封装的贴片电阻，是因为通常0805封装电阻的瞬时耐压约为150V，8个电阻串联所能承受的瞬时耐压约为1200V，而选用8个0805封装的电阻串联是根据成本、PCB的布板空间和实际使用情况所作出的较佳选择。