[实用新型]一种圆面磁体磁场检测模座有效
申请号: | 201520367578.0 | 申请日: | 2015-06-01 |
公开(公告)号: | CN204631234U | 公开(公告)日: | 2015-09-09 |
发明(设计)人: | 关传海;关世昊;李如福 | 申请(专利权)人: | 苏州市东泰磁业有限公司 |
主分类号: | G01R33/07 | 分类号: | G01R33/07 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 215152 江苏省*** | 国省代码: | 江苏;32 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 磁体 磁场 检测 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种表面磁场强度检测技术设备领域,特别涉及一种圆面磁体磁场检测模座。
背景技术
钕铁硼磁体由于其具有高剩磁、高矫顽力、高磁能积等优异特性,且容易加工成各种形状规格的磁体,被广泛用于电机、仪表、电子元器件等永久磁场的装置和设备中;磁体表面磁场强度是磁铁应用的一项重要指标,如何测量磁体的磁场强度是装配前检验判定的关键,需要一种快速、准确、接近使用状态的磁场强度测量方法。
通常永磁体磁场强度检验有两种方法,一种是采用磁通计加亥姆霍兹线圈测量永磁体的整体磁通,另一种是利用高斯计加霍尔感应探头测量永磁体某点的表面磁场强度,这两种方法都是采用开路测量方法;磁通计加亥姆霍兹线圈测量出来的是整个永磁体的磁通,无法反映永磁体工作时候的表面磁场强度分布情况,对于永磁体的使用意义不大;高斯计加霍尔探头测量方法只能检测出永磁体某一个空间点的磁场强度,由于受到磁体测量位置、霍尔探头元件的厚度、使用人员水平的影响,测量数据差异很大,同时检测效率很慢,无法进行快速准确的检测。
现有技术的高斯计加霍尔探头测量方法的不足是:1、测量空间某一点位置的表面磁场强度,需要特别规定某一个位置,而手动测量很难找到重现相同的测量位置;2、测量的数据会有偏差,缺乏比较性,使得测量结果不具有应用意义;3、圆面磁体,特别是小件圆形面磁体测量时,测量效率低,精确定位更困难。
实用新型内容
为解决上述技术问题,本实用新型提供了一种圆面磁体磁场检测模座,针对现有技术中的不足,采用伺服电机轴向设置正反向旋转的单向齿轮,分别驱动圆基座和检测台,实现圆基座的定向转动,从而轮换对多个检测台进行测量,通过伺服电机的反向转动,驱动行星齿轮带动检测台旋转,霍尔感应探头与高斯计配合,对磁体圆形表面磁场强度测量,并由控制器记录磁场强度与位置的数据,定位准确,测量结果误差小。
为达到上述目的,本实用新型的技术方案如下:一种圆面磁体磁场检测模座,包括架台、圆基座、伺服电机、传动轴、检测台、行星齿轮、台单向齿轮、座单向齿轮、霍尔感应探头、高斯计、控制器、座齿盘、信号线,其特征在于:
所述检测模座包括圆基座、检测台、行星齿轮和座齿盘;所述圆基座为圆柱形,其底部中心设置有传动轴,所述传动轴上通过键销固定设置有台单向齿轮和座单向齿轮,所述圆基座内设置有上、下二层齿轮结构,下层齿轮为座齿盘,所述座齿盘与座单向齿轮啮合连接;上层齿轮为中心圆周对称设置的行星齿轮,所述行星齿轮与台单向齿轮啮合连接;所述台单向齿轮和座单向齿轮与传动轴同轴装配,所述座齿盘与圆基座固定设置,所述行星齿轮内固定设置有检测台,所述检测台底部设置有行星轴,所述检测台在行星齿轮的带动下,环绕所述行星轴旋转;所述传动轴与架台轴承、轴套连接,并由伺服电机通过连轴结连接。
所述检测台内部设置有多级圆形台阶,圆面磁体放置到所述检测台内的圆形台阶内,通过上方的霍尔感应探头测量圆形磁体表面的磁场强度;所述霍尔感应探头通过信号线与高斯计连接,所述伺服电机、高斯计与控制器电气信号连接,所述控制器依据设定,控制伺服电机的正向转动或者反向转动。
所述行星齿轮至少设置2个;所述检测台至少中心对称设置2个;所述检测台内至少设置1级台阶。
所述台单向齿轮与座单向齿轮的啮合作用方向相反设置。
本实用新型的工作原理为:所述传动轴顺时针转动时,所述台单向齿轮为啮合方向,传动轴与台单向齿轮同步顺时针转动,并带动所述检测台旋转运行,对圆面磁体进行测量;由于座单向齿轮与台单向齿轮方向设置相反,座单向齿轮对于座齿盘没有驱动作用。
所述传动轴反时针转动时,所述台单向齿轮对于行星齿轮没有驱动作用,由于座单向齿轮与台单向齿轮方向设置相反,座单向齿轮与座齿盘啮合作用,并驱动座齿盘,进而带动圆基座一同反时针转动,从而改变所述检测台的位置,通过控制器控制伺服电机的转动角度,实现检测台的换位操作。
由控制器通过霍尔感应探头的直线移位,伺服电机的顺时针旋转,驱动行星齿轮旋转,并带动检测台旋转,对小件磁体圆形表面的磁场强度进行扫描测量,并将测量坐标与高斯计上对应的磁场强度记录储存,显示出最大磁场强度的坐标数据;单件磁体测量完成后,通过控制器控制伺服电机反方向转动,并带动圆基座定量旋转到下一个检测台位置,进行第二个小件磁体的测量,直到圆基座上所有的检测台位置都测量完成为止。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于苏州市东泰磁业有限公司,未经苏州市东泰磁业有限公司许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520367578.0/2.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:放射线固化性有机硅组合物
- 下一篇:一种综合温升测试平台