[实用新型]一种高精度硅晶式太阳方位检测头有效
| 申请号： | 201520420584.8 | 申请日： | 2015-06-17 |
| 公开（公告）号： | CN204718582U | 公开（公告）日： | 2015-10-21 |
| 发明（设计）人： | 赵连新;栾禄祥 | 申请（专利权）人： | 赵连新 |
| 主分类号： | G01C1/00 | 分类号： | G01C1/00 |
| 代理公司： | 沈阳优普达知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 21234 | 代理人： | 俞鲁江 |
| 地址： | 110021 *** | 国省代码： | 辽宁;21 |
| 权利要求书： | 查看更多 | 说明书： | 查看更多 |
| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 高精度 硅晶式 太阳 方位 检测 | ||
【权利要求书】：
1.一种高精度硅晶式太阳方位检测头，其特征在于：
包括中央造影立柱、硅晶板、固定螺栓；
所述中央造影立柱通过螺栓与硅晶板贯穿连接。
2.根据权利要求1所述的高精度硅晶式太阳方位检测头，其特征在于：
还包括固定平台，通过固定螺栓将中央造影立柱和硅晶板固定到固定平台上。
3.根据权利要求1所述的高精度硅晶式太阳方位检测头，其特征在于：
所述硅晶板为方形板块，其中部开设有供固定螺栓贯穿的圆孔。
4.根据权利要求1所述的高精度硅晶式太阳方位检测头，其特征在于：
所述硅晶板上呈十字形布置有4片硅晶片，在方形的第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片中间形成方形空白区；所述第一硅晶片、第二硅晶片、第三硅晶片、第四硅晶片分别输出电压信号。
5.根据权利要求1所述的高精度硅晶式太阳方位检测头，其特征在于：
中央造影立柱上部为方形柱体，下部为梯台体；梯台体与方形空白区对应连接；梯台体的斜面将阳光反射到硅晶片上。
6.根据权利要求1所述的高精度硅晶式太阳方位检测头，其特征在于：
中央造影立柱为铝材质制成。
下载完整专利技术内容需要扣除积分，VIP会员可以免费下载。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息，商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于赵连新，未经赵连新许可，擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作，请联系【客服】
本文链接：http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520420584.8/1.html，转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇：一种远程测控照明水准尺
- 下一篇：爆破用杂散电流疗电装置
