[实用新型]一种电子元器件加速贮存试验工装

说明书

技术领域

本实用新型属于加速贮存试验技术领域，具体涉及一种电子元器件加速贮存试验工装。

背景技术

加速贮存试验是基于失效机理分析，通过施加不改变失效机理的极限环境应力，在较短的试件内暴露出期间的缺陷，快速掌握电子电路在正常贮存条件下的性能变化规律。加速贮存试验研究分析元器件的长期贮存可靠性是目前可靠性研究方向的热点与重点。

在电子元器件开展加速贮存试验过程中，需要对电子元器件施加加速的环境应力，以及多种环境应力的组合，从而对试验工装提出了比自然贮存严酷的多的环境适应性要求。同时，电子元器件的加速贮存试验需要大量试验样本量，目前加速贮存试验采用的是老炼或环境应力筛选试验的工装，采用粘贴编号在加速贮存应力长期作用下容易脱落，造成混乱编号，难以明确每个样本的性能参数变化。另外，加速贮存试验中很关键的一点就是分析产品性能变化，需要频繁多次的监测指标，对试验工装还提出了方便多次进行电参数测量的隔离性和绝缘性等要求。

当前国内外还未有成熟统一的电子产品加速贮存试验方法，并且在试验实施过程中的试验工装也缺乏统一有效的设计规范，一旦试验工装设计欠妥，会影响试验结果，混乱编号或丢失样本，甚至会造成试验经费与时间成本的浪费。因此，需要提供一种电子元器件加速贮存试验工装，以解决电子元器件在加速贮存试验的过程中样本编号、绝缘、隔离等问题。

发明内容

本实用新型的目的在于针对缺少专门加速贮存试验工装的技术问题，提供了一种电子元器件加速贮存试验工装。

实现本实用新型目的的技术方案：

一种电子元器件加速贮存试验工装，为正方形或长方形的平板，平板的边长为200mm～300mm，平板的厚度为10～15mm，平板的材质为玻璃钢；平板上均布多个元器件安装处，元器件安装处为凹陷于平板表面的圆形、方形、或长圆形的沟或槽结构，待测元器件安装在元器件安装处内；元器件安装处的左上角具有编号。

所述编号刻在平板上并用记号笔描色。

所述工装外形为200mm×200mm的正方形平板，厚度为10mm。

所述元器件安装处为直径20mm圆形槽，平板上均布有36个圆形槽，每个圆形槽之间间隔30mm。

所述工装外形为300mm×200mm的长方形平板，厚度为10mm。

所述元器件安装处为长圆形槽，尺寸为36×16mm；平板上均布有30个长圆槽，横向分为5行，纵向分为6列；每个长圆槽之间间隔50mm。

所述工装外形为270mm×200mm的长方形平板，厚度为15mm。

所述元器件安装处为35×10mm长方形槽，平板上均布有12个长方形槽，横向分为4行，纵向分为3列；每个长方形槽之间间隔10mm。

本实用新型的效果在于：

本实用新型针对电子元器件外形的共性特点，设计了一类可以承受加速贮存环境应力的试验工装，能够有效解决电子元器件在加速贮存试验的过程中样本编号、绝缘、隔离等问题。

采用本试验工装，方便了电子元器件进行加速贮存试验过程中的实施，尤其有效解决了耐加速贮存环境应力、绝缘性、编号和隔离几大技术问题。为加速贮存试验的规范化实施起到了积极的推进作用。通过加速贮存试验的摸底试验与正式试验的反复测试与试验数据的积累，经验证本加速贮存试验工装达到了预期设计目标，具有良好的应用效果。

附图说明

图1为贴片外形状态元器件的加速贮存试验工装结构示意图；

图2为带插针引脚电阻器件和二极管器件的加速贮存试验工装结构示意图；

图3为电磁继电器类中型封装形式元器件的加速贮存试验工装结构示意图；

图中，1-平板，2-元器件安装处。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步描述。

目前任何一种加速贮存试验方法都需要在试验过程中多次对研究对象进行参数测量，从而获得每一件研究对象的故障数据和性能参数变化数据。而试验用工装就起到了为被试对象提供稳定而安全的加速环境的作用，同时对于贴片和小型封装的电子元器件，其工装的绝缘性、编号特性，对微小型器件的隔离性，以及方便测试问题，都是工装设计要考虑的关键技术问题。

1)针对中小型电子元器件外形的共性特点。不同封装形式，不同类型的中小型电子元器件、贴片器件，其外部形状，长宽尺寸大小以及厚度等信息各具特点，需要通过总结共性特点，设计制作一类可以具有一定覆盖性的加速贮存试验工装。