[实用新型]基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置有效
申请号: | 201520438096.X | 申请日: | 2015-06-19 |
公开(公告)号: | CN204854795U | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 王雁茹;赵春柳;时菲菲 | 申请(专利权)人: | 中国计量学院 |
主分类号: | G01D21/02 | 分类号: | G01D21/02 |
代理公司: | 暂无信息 | 代理人: | 暂无信息 |
地址: | 310018 浙江省*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 基于 波长 otdr 技术 周期 光纤 光栅 多点 参数 检测 装置 | ||
1.基于双波长OTDR技术的长周期光纤光栅多点双参数检测装置,包括:PC机、光脉冲调制器、不同波长的激光二极管、2×1波分复用器、3端口环形器、长距离传输光纤、多根长周期光纤光栅、1×2波分复用器、两个光电探测器、数据采集卡,其特征在于:
PC机分别与脉冲调制器和数据采集卡相连,脉冲调制器的输出端和两个不同波长的激光二极管的输入端相连,两个不同波长的激光二极管的输出端分别与2×1波分复用器的的两端口的一端相连,3端口环形器1.1端口和3.3端口分别与2×1波分复用器的一端口的一端和1×2波分复用器的一端口的一端相连,1×2波分复用器两端口的一端分别与光电探测器相连,光电探测器的输出端与数据采集卡相连。
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