[实用新型]一种小型晶体谐振器用测试头

说明书

技术领域

本实用新型涉及晶体谐振器类，具体是一种小型晶体谐振器用测试头，尤其涉及一种针对频率微调机内的超小型晶体谐振器用测试头。

背景技术

石英晶体谐振器是各类通讯电子数码产品中配套关键元件之一，近年来随着智能通讯及各种数字化技术的发展，这类数码产品对与之配套的石英晶体谐振器小型化要求也越来越高，石英晶体谐振器外形也越来越小，为了提高石英晶体谐振器的频率精度，在生产的过程中需要边测试边进行频率调整，至到达到目标频率，频率的测试是通过测试头探针接触石英晶体谐振器基座上的引线脚，但是由于石英晶体谐振器外形越来越小，基座上的引线脚可测试接触面积也越来越小，测试头探针与基座引线脚对位也越来越困难，接触精度差不仅引起频率测试不准确，也使生产过程中测试效率及良品率很低。

现有技术中，晶体谐振器测试头都是通过用2-4根探针直接穿过集成电路板及测试座本体，接触对位过程是通过大致目测多次校正的方式进行，不仅效率低，而且接触对位精度不高，直接影响了频率测试精度，生产良率也难以提高。

发明内容

本实用新型的目的是针对现有晶体谐振器测试头的技术缺陷，提供一种小型晶体谐振器用测试头，以提高接触对位精度，提升频率测试精度，保证测试效率及良品率。

本实用新型采用以下技术方案：

一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于：包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体，以及测试头本体上端和下端的固定板，测试头本体中空，上下两个固定板都是透明材质，两个固定板上按基座引线脚与探针的接触位置设有对应的探针孔，上固定板通过定位梢固定于测试头本体上，下固定板通过滑动轴承固定于测试头的下端，可以自由伸缩。

本实用新型上下固定板均有两组各四个探针孔，八个探针穿过上下固定板探针孔，可以同时测试二颗晶体谐振器。

本实用新型测试头本体上端开有两个沉孔螺孔，用于固定与探针联接的集成线路板；测试头本体开有两个锁紧孔，探针与晶体谐振器脚位对准后，通过螺栓固定在测试设备上。

本实用新型测试头本体左右两端打有通孔，用于安装一对滑动轴承。测试头工作时，下固定板通过一对卡簧固定在滑动轴承上，在重力的作用下垂直向外延伸。

本实用新型测试头通过采用透明上下固定板，中空的测试头本体，可自由伸缩的下固定板，安装时可以方清楚确认探针与晶体谐振器脚位的对位情况，便于调整对位精度，对位完成后，先将测试座本体固定在测试设备上，再将与探针接触的集成电极板固定在测试座本身上。本实用新型提高了接触对位精度，提升了频率测试精度，保证了测试效率及良品率。

附图说明

图1本实用新型结构示意图。

图2为上固定板结构示意图。

图3为下固定板结构示意图。

图4为滑动轴承结构示意图。

图5为测试探针结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图对本实用新型的具体实施方式进行详细阐述：

如图1-5所示，一种小型晶体谐振器用测试头，其特征在于：包括集成线路板与所述集成线路板配合的测试头本体1，以及测试头本体上固定板2和下固定板3。测试头本体1中间是中空的，上固定板2和下固定板3都是透明有机玻璃材质。上固定板2和下固定板3上按基座引线脚与探针4的接触位置开有两组各四个探针孔，工作时安装八根探针4，可以同时测试两颗晶体谐振器产品，上固定板2通过测试头本体1上的一对定位梢6固定于测试头本体1上，下固定板3通过测试头本体1上的一对滑动轴承7固定于测试头的下端，可以自由伸缩。安装时探针4下端固定在下固定板探针孔9内，上端固定于上固定板探针孔10内。测试头本体1开有两个锁紧孔5，探针与晶体谐振器脚位对准后，通过测试头本体1上的一对螺栓穿过锁紧孔5固定在测试设备上。

本实用新型测试头本体1左右两端打有通孔，用于安装一对滑动轴承7。测试头工作时，下固定板3通过一对卡簧11固定在滑动轴承7上，在重力的作用下垂直向外延伸。

本实用新型测试头本体1上端开有两个沉孔螺孔8-A和8-B，用于固定与探针4联接的集成线路板。

本实用新型测试头上下固定板为全透明泰氟隆材质。