[实用新型]内嵌式试验开关结构有效

专利信息
申请号: 201520450916.7 申请日: 2015-06-25
公开(公告)号: CN204809084U 公开(公告)日: 2015-11-25
发明(设计)人: 钱加灿 申请(专利权)人: 余姚市嘉荣电子电器有限公司
主分类号: H01H13/28 分类号: H01H13/28;H01H13/06
代理公司: 余姚德盛专利代理事务所(普通合伙) 33239 代理人: 胡小永
地址: 315463 浙江省宁*** 国省代码: 浙江;33
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摘要:
搜索关键词: 内嵌式 试验 开关 结构
【权利要求书】:

1.一种内嵌式试验开关结构,包括上盖(1)、下盖(2)和线路板(3),其中线路板(3)位于上盖(1)和下盖(2)之间,其特征在于:还包括压板(4)、防水硅胶垫(5)和触发按键(6);所述线路板(3)设置有试验开关接触点(8),所述触发按键(6)与试验开关接触点(8)相对应,并且所述触发按键(6)设有复位弹簧(9);所述压板(4)位于防水硅胶垫(5)下端;所述防水硅胶垫(5)设有试验开关(7),所述触发按键(6)位于试验开关(7)下方,所述试验开关(7)和防水硅胶垫(5)一体成型。

2.如权利要求1所述的内嵌式试验开关(7)结构,其特征在于:所述防水硅胶垫(5)设有一体成型的复位键(10)。

3.如权利要求1所述的内嵌式试验开关(7)结构,其特征在于:所述防水硅胶垫(5)设有用于安装触发按键(6)的第一通孔(11)。

4.如权利要求2所述的内嵌式试验开关(7)结构,其特征在于:所述防水硅胶垫(5)设有与复位键(10)对应的第二通孔(12)。

5.如权利要求1至4任一项所述的内嵌式试验开关(7)结构,其特征在于:所述压板(4)两端设有定位孔(13)。

6.如权利要求5所述的内嵌式试验开关(7)结构,其特征在于:所述触发按键(6)由防腐处理后的金属压铸而成。

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