[实用新型]一种温度测试电路有效
| 申请号： | 201520460888.7 | 申请日： | 2015-06-24 |
| 公开（公告）号： | CN204694371U | 公开（公告）日： | 2015-10-07 |
| 发明（设计）人： | 卢承领;张刚;杜成涛;吴学娟 | 申请（专利权）人： | 皖西学院 |
| 主分类号： | G01K7/24 | 分类号： | G01K7/24 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 237012 安徽省六*** | 国省代码： | 安徽;34 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 一种 温度 测试 电路 | ||
1.一种温度测试电路，包括电阻R1、电阻R2、瞬态电压抑制二极管D1和芯片IC1，其特征在于，所述电阻R1的一端连接电源VCC，电阻R1的另一端连接电阻R2和瞬态电压抑制二极管D1，瞬态电压抑制二极管D1的另一端连接电阻R4、电阻R5、电阻R13和电位器RP1的一个固定端并接地，电阻R2的另一端连接电阻R3、电阻R12和电位器RP1的另一个固定端，电阻R3的另一端连接电阻R11和电阻R5的另一端，电阻R12的另一端连接电阻R13，电阻R4的另一端连接电阻R11的另一端和芯片IC1的引脚1，电位器RP1的滑动端连接电阻R6和芯片IC1的引脚3，芯片IC1的引脚4连接电阻R6的另一端和电阻R7，电阻R7的另一端连接电阻R9、电容C1、二极管D2的阳极、二极管D3的阴极和芯片IC2的引脚3，二极管D2的阴极连接二极管D3的阳极、电容C1的另一端、电阻R8和芯片IC2的引脚1，电阻R8的另一端接地，电阻R9的另一端连接电阻R10、电容C2、电位器RP2的一个固定端和芯片IC2的引脚4，电阻R10的另一端连接电容C2的另一端并接地，电位器RP2的另一个固定端接地，电位器RP2的滑动端连接电压表P，电压表P的另一端接地。
2.根据权利要求1所述的一种温度测试电路，其特征在于，所述芯片IC1和芯片IC2的型号均为LM321。
3.根据权利要求1所述的一种温度测试电路，其特征在于，所述电阻R5为热敏电阻。
4.根据权利要求1所述的一种温度测试电路，其特征在于，所述电阻R3、电阻R12和电阻R13的阻值均为100Ω。
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