[实用新型]一种滚塑模具分流道检测用红外探伤仪

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种红外探伤仪，特别涉及一种滚塑模具分流道检测用红外探伤仪。

背景技术

在特定光源和红外探测器的协助下，HS-NIR-01型红外探伤测试仪能够穿透200mm深度的硅块，纯硅料几乎不吸收这个波段的波长，但是如果硅块里面有微粒、夹杂(通常为SiC)、隐裂，则这些杂质将吸收红外光，因此在成像系统中将呈现出来，而且这些图像将通过我们的软件自动生成三维模型图像。多晶硅红外探伤测试仪主要由红外光源，旋转台，成像系统构成。成像系统的参数设置包括光照亮度，对比度，伽马射线和一体化的时间设置，获取模式选择和损坏像素管理。旋转台由单轴伺服电机驱动，同时拥有光电编码器的位置检查的功能。软件也可以直接控制伺服电机。通常都是在硅块清洗处理后线切割前进行红外探伤，在线切割前进行红外探伤不仅可以减少线痕片，而且可以减少SiC断线，大大提高效益，这些夹杂都可以清晰地反映在我们的红外探伤系统中。断线的修复是一个费时费力的工作，同时不是所有的断线都能够成功。因此它是多晶硅片生产中不可或缺的工具。现有的红外探伤仪不方便对滚塑模具分流道进行检测，维修也不方便。

实用新型内容

本实用新型的目的在于解决上述技术问题而提供一种可以通过上扣板与下扣板扣紧红外探伤仪主体，通过拉簧可以使上扣板与下扣板相互之间的连接更加牢固，且通过四插板方便组装，方便了对上扣板与下扣板的组装；通过第一分支光纤与第二探伤球方便对滚塑模具分流道进行检测，从而大大提高了滚塑模具分流道的检测效率，方便对滚塑模具分流道进行检测与维修的滚塑模具分流道检测用红外探伤仪。

为实现上述目的，本实用新型采用以下技术方案：

一种滚塑模具分流道检测用红外探伤仪，包括上扣板与下扣板，上扣板与下扣板之间设有红外探伤仪主体，上扣板的一端设有第一套壳，第一套壳的一端与上扣板对接，上扣板的另一端为自由端，上扣板的另一端设有第二套壳，第二套壳的一端与上扣板对接，第二套壳的另一端为自由端，下扣板的一端设有第三套壳，第三套壳的一端与下扣板对接，第三套壳的另一端为自由端，下扣板的另一端设有第四套壳，第四套壳的一端与下扣板对接，第四套壳的另一端为自由端，上扣板与下扣板的一端通过第一拉簧连接，上扣板与下扣板的另一端通过第二拉簧连接，第一拉簧的上端设有第一插板，第一插板插接在第一套壳内，第一拉簧的下端设有第二插板，第二插板插接在第三套壳内，第二拉簧的上端设有第三插板，第三插板插接在第二套壳内，第二拉簧的下端设有第四插板，第四插板插接在第四套壳内；红外探伤仪主体连接有主光纤，主光纤设有第一探伤球，主光纤设连接有第一分支光纤，第一分支光纤设有第二探伤球。

进一步地，所述第一分支光纤连接有第二分支光纤。

进一步地，所述第二分支光纤的端部设有第三探伤球。

进一步地，所述第一分支光纤连接有第三分支光纤。

进一步地，所述第三分支光纤设有第四探伤球。

本实用新型的有益效果：可以通过上扣板与下扣板扣紧红外探伤仪主体，通过第一拉簧与第二拉簧可以使上扣板与下扣板相互之间的连接更加牢固，且通过第一插板、第二插板、第三插板以及第四插板方便组装，方便了对上扣板与下扣板的组装；通过第一分支光纤与第二探伤球方便对滚塑模具分流道进行检测，从而大大提高了滚塑模具分流道的检测效率，方便对滚塑模具分流道进行检测与维修。

附图说明

图1所示为本实用新型实施例提供的滚塑模具分流道检测用红外探伤仪的结构示意图。

具体实施方式

下面，结合实例对本实用新型的实质性特点和优势作进一步的说明，但本实用新型并不局限于所列的实施例。