[实用新型]一种IGBT过流故障检测电路有效
申请号: | 201520480639.4 | 申请日: | 2015-07-06 |
公开(公告)号: | CN204758768U | 公开(公告)日: | 2015-11-11 |
发明(设计)人: | 胡晓东 | 申请(专利权)人: | 西安科技大学 |
主分类号: | G01R31/27 | 分类号: | G01R31/27 |
代理公司: | 西安创知专利事务所 61213 | 代理人: | 谭文琰 |
地址: | 710054 *** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 igbt 故障 检测 电路 | ||
1.一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:包括控制器(7)、参考电压电路(4)、以及与所述控制器(7)相接的与运算电路(6)和串联在输入电路与输出电路之间的IGBT(1),所述与运算电路(6)的输入端接有第一信号比较电路(5-1)和第二信号比较电路(5-2),所述IGBT(1)的集电极与所述第一信号比较电路(5-1)的第一输入端之间接有过流检测电路(2),所述IGBT(1)的门极与所述第二信号比较电路(5-2)的第一输入端之间接有门极吸收抑制电路(3),所述第一信号比较电路(5-1)的第二输入端和第二信号比较电路(5-2)的第二输入端均与所述参考电压电路(4)的信号输出端相接;
所述过流检测电路(2)包括光耦芯片U3和多个依次串联连接的二极管压降单元,所述光耦芯片U3的第1管脚经电阻R1和稳压二极管ZA1与+15V电源输出端相接,光耦芯片U3的第2管脚与所述多个依次串联连接的二极管压降单元的阳极相接,多个依次串联连接的二极管压降单元的阴极与IGBT(1)的集电极相接,光耦芯片U3的第3管脚接地;
所述门极吸收抑制电路(3)包括电阻R2、电容C1和二极管DA,所述电阻R2的一端与二极管DA的阴极和IGBT(1)的门极的连接端相接,电阻R2的另一端与二极管DA的阳极和电容C1的一端的连接端相接,电容C1的另一端接地。
2.按照权利要求1所述的一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:所述多个依次串联连接的二极管压降单元包括至少四个二极管。
3.按照权利要求1所述的一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:所述参考电压电路(4)包括稳压二极管ZA2和电阻R3,所述稳压二极管ZA2的阴极经电阻R3与+15V电源输出端相接,稳压二极管ZA2的阳极接地,稳压二极管ZA2的阴极和电阻R3的连接端为所述参考电压电路(4)的信号输出端。
4.按照权利要求1所述的一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:所述第一信号比较电路(5-1)包括运放U1,所述运放U1的同相输入端分两路,一路与所述光耦芯片U3的第4管脚相接,另一路经电阻R4与+15V电源输出端相接;运放U1的输出端经电阻R5与运放U1的同相输入端相接,运放U1的反相输入端与所述参考电压电路(4)的信号输出端。
5.按照权利要求4所述的一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:所述第二信号比较电路(5-2)包括运放U2,所述运放U2的同相输入端与电阻R2的另一端、二极管DA的阳极和电容C1的一端的连接端相接,运放U2的输出端经电阻R6与运放U2的同相输入端相接,运放U2的反相输入端与所述参考电压电路(4)的信号输出端。
6.按照权利要求5所述的一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:所述与运算电路(6)包括与门AND,所述与门AND的一个输入端与所述运放U1的输出端相接,与门AND的另一个输入端与所述运放U2的输出端相接,与门AND的输出端与控制器(7)的输入端相接。
7.按照权利要求6所述的一种IGBT过流故障检测电路,其特征在于:所述控制器(7)为单片机或ARM微控制器,所述单片机或ARM微控制器的输出端与所述IGBT(1)的门极相接。
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