[实用新型]一种XRD测试设备用可控升温装置

权利要求书

1.一种XRD测试设备用可控升温装置，由金属桶体(1)、隔热内衬(2)、样品室(3)、热电偶(4)、加热线圈(5)、陶瓷套管(6)、导线(7)、控温仪(8)、粉末样品槽底座(9)、粉末样品槽(10)、块体样品台(11)组成，金属桶体(1)与样品室(3)之间安装一层隔热内衬(2)，加热线圈(5)沿隔热内衬(2)侧壁安装，热电偶(4)粘贴在样品室(3)底部，连接加热线圈(5)的导线(7)通过陶瓷套管(6)引出，其温度通过热电偶(4)和外接的控温仪(8)测量、控制，样品室(3)中可放置与其配套的粉末样品槽底座(9)、粉末样品槽(10)和块体样品台(11)。

2.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的隔热内衬(2)为硅酸盐、氧化铝、莫来石、氧化锆、氧化硅、碳化硅或氮化硅陶瓷保温材料。

3.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的隔热内衬(2)上部有一台阶，用于固定样品室(3)。

4.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的加热装置为加热线圈(5)，使用温度为室温至800℃。

5.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的连接加热线圈(5)的导线(7)通过陶瓷套管(6)引出。

6.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的粉末样品槽底座(9)、粉末样品槽(10)和块体样品台(11)的材质可以为导热金属，石英，玻璃或耐高温的导热聚合物。

7.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的粉末样品槽底座(9)、块体样品台(11)的直径与样品室(3)的内径一致。

8.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的粉末样品槽底座(9)、粉末样品槽(10)的整体高度和样品室(3)的高度一致。

9.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的粉末样品放置区为粉末样品槽(10)。

10.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置带有一套高度不等的块体样品台(11)，实验时根据块体样品大小选择，以保证块体样品待测表面与金属桶体(1)的上表面齐平。

11.如权利要求1所述的一种XRD测试设备用可控升温装置，其特征是，所述装置的块体样品台(11)表面开有一对浅梯形凹槽，大小适合用镊子或类似工具取放块体样品台(11)。