[实用新型]阵列角反射器指向精度测量系统有效
申请号: | 201520498858.5 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN205192727U | 公开(公告)日: | 2016-04-27 |
发明(设计)人: | 段战军 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01M11/02 | 分类号: | G01M11/02 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 张倩 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 反射 指向 精度 测量 系统 | ||
技术领域
本实用新型属于阵列角反射器领域,尤其涉及阵列角反射器指向精度测量系统。
背景技术
角锥棱镜的工作原理:从角锥棱镜的一个对角面进入一束平行光,经过其它三个对角面的内反射,再从该对角面出射,主要应用于精确测量领域。
按照设计要求和实际的应用,阵列角反射器已经应用于航天和军事各个领域。阵列角反射器由于角锥棱镜数量多,要求每一个角锥棱镜都和中间角锥棱镜的指向精度偏差小于10″。对指向精度偏差较大的角锥棱镜进行及时校正,保证满足设计指标的需求。
现有阵列角反射器的角锥棱镜指向精度检验方法,使用经纬仪利用自准直方法进行检验,虽然也能实现低要求的测量,但是还存在以下缺陷:1、经纬仪视场小,通光口径小,要进行多次测量,然后将多次测量的结果进行对比,判读指向精度的偏差大小,测量过程复杂。
2、经纬仪的工作距离要求长,往往自准回来的十字分化板像比较弱,能量低,判断角锥指向精度误差比较大。
3、根据人眼判读指向精度误差比较大,不同的人读数误差不同。
发明内容
为了解决现有的阵列角反射器的角锥棱镜指向精度测量方法存在测量过程复杂、测量效率低的技术问题,本实用新型提供一种阵列角反射器指向精度测量系统及方法。
本实用新型的技术解决方案:
阵列角反射器指向精度测量系统,其特殊之处在于:包括光源、星点板、平行光管、半透半反平面镜、缩束镜头、滤光片、CCD相机以及PC机,
所述光源经过星点板、平行光管发出平行光,平行光垂直入射半透半反平面镜,待测阵列角反射器位于半透半反平面镜的反射光路上,半透半反平面镜的透射光路上依次摆放有缩束镜头、滤光片以及CCD组件,所述CCD组件与PC机连接。
上述光源为白炽灯。
上述星点板放置在平行光管的焦面位置。
上述星点板的中心孔直径为0.01mm-0.05mm。
上述半透半反平面镜的与水平面的夹角为45°。
阵列角反射器指向精度测量方法,其特殊之处在于:包括以下步骤:
1)搭建阵列角反射器指向精度测量系统;
2)光源经过星点板及平行光管产生平行光,入射半透半反平面镜;
3)经半透半反平面镜反射至待测阵列角反射器,待测阵列角反射器接收星点像;
4)待测阵列角反射器将星点像反射后透过半透半反平面镜进入缩束镜头,然后经过滤光片聚焦在CCD组件的靶面上;
5)通过PC机的屏幕观察不同角反射器反射的星点像成像位置,测量指向精度:
如果PC机屏幕上成的像为一个星点像,则阵列角反射器所有的角反射器的指向一致;
如果PC机屏幕上成的像为多个星点像,则阵列角反射器所有的角反射器的指向不一致。
上述步骤1)中所搭建系统的半透半反平面镜处于45°角位置,具体确定方法包括以下步骤为:
a利用五棱镜工作原理建立第一经纬仪9和第二经纬仪10的位置夹角90°基准:
将第一经纬仪9放置在五棱镜的入射面位置,将第二经纬仪10放置在五棱镜出射面位置,通过第一经纬仪9的十字分划板观察第二经纬仪10的像面十字分划板,保证两个分划板十字中心重合,建立两个经纬仪的90°基准;
b确定半透半反平面镜位置:
将步骤a中的五棱镜更换为半透半反平面镜,通过第一经纬仪9、半透半反平面镜观察第二经纬仪10的十字分划板,调整半透半反平面镜位置,直到两个经纬仪的十字分划板中心重合,此时半透半反平面镜45°的位置确定。
上述步骤1)中所搭建系统的待测阵列角反射器位置确定包括以下步骤为:
将上述步骤b中的第一经纬仪9的位置处放置待测阵列角反射器,调整待测阵列角反射器的位置,直到在第二经纬仪10上能观察到阵列角反射器反射回来的自准直像和第二经纬仪10的十字分化板十字中心重合,阵列角反射器的位置确定。
上述步骤1)中所搭建系统的平行光管位置确定方法包括以下步骤为:
首先,将平行光管放置在半透半反平面镜的与待测阵列角反射器垂直的反射光路上,并在平行光管的后端安装自准直望远镜;
然后,通过自准直望远镜观察通过半透半反平面镜和待测阵列角反射器反射回来的自准直十字像,保证自准直像十字像和自准直望远镜的分化十字像完全重合平行光管的位置确定。
本实用新型所具有的优点:
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