[实用新型]测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统有效
申请号: | 201520498859.X | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN204854637U | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 张学敏;宋兴;张志军;侯晓华;闫肃 | 申请(专利权)人: | 中国科学院西安光学精密机械研究所 |
主分类号: | G01B11/02 | 分类号: | G01B11/02;G01B11/26 |
代理公司: | 西安智邦专利商标代理有限公司 61211 | 代理人: | 姚敏杰 |
地址: | 710119 陕西省西*** | 国省代码: | 陕西;61 |
权利要求书: | 查看更多 | 说明书: | 查看更多 |
摘要: | |||
搜索关键词: | 测量 抛物面 反射 镜离轴量 离轴角 系统 | ||
1.一种测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统,其特征在于:所述系统包括光轴标杆A、光轴标杆B、自准直经纬仪A、自准直经纬仪B、自准直经纬仪C、干涉仪、平面反射镜以及小平面镜;所述自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B以及自准直经纬仪B依次处于同一光轴上;所述自准直经纬仪B与自准直经纬仪C处于同一光轴上;待测离轴反射镜置于自准直经纬仪B与自准直经纬仪C之间;所述小平面镜贴附在待测离轴反射镜上;所述干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合;所述干涉仪发出的球面波经待测离轴反射镜反射后形成反射光;所述平面反射镜置于反射光所在光路上。
2.根据权利要求1所述的测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统,其特征在于:所述小平面镜置于待测离轴反射镜与自准直经纬仪C之间并贴附在待测离轴反射镜上。
3.根据权利要求2所述的测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统,其特征在于:所述干涉仪的焦点与待测离轴反射镜的焦点重合并位于自准直经纬仪A、光轴标杆A、光轴标杆B以及自准直经纬仪B所在的光轴上。
4.根据权利要求1或2或3所述的测量离轴抛物面主反射镜离轴量和离轴角的系统,其特征在于:所述自准直经纬仪A、自准直经纬仪B以及自准直经纬仪C的精度均优于0.5”。
该专利技术资料仅供研究查看技术是否侵权等信息,商用须获得专利权人授权。该专利全部权利属于中国科学院西安光学精密机械研究所,未经中国科学院西安光学精密机械研究所许可,擅自商用是侵权行为。如果您想购买此专利、获得商业授权和技术合作,请联系【客服】
本文链接:http://www.vipzhuanli.com/pat/books/201520498859.X/1.html,转载请声明来源钻瓜专利网。
- 上一篇:跟踪式汽车外廓尺寸自动测量系统
- 下一篇:一种龙门式影像测量仪中的大理石横梁