[实用新型]通道内颗粒物的在位式检测装置有效
| 申请号： | 201520499900.5 | 申请日： | 2015-07-08 |
| 公开（公告）号： | CN204740188U | 公开（公告）日： | 2015-11-04 |
| 发明（设计）人： | 王大伟;于志伟;杨凤琴;付聪 | 申请（专利权）人： | 杭州泽天科技有限公司 |
| 主分类号： | G01N15/06 | 分类号： | G01N15/06 |
| 代理公司： | 暂无信息 | 代理人： | 暂无信息 |
| 地址： | 310052 浙江省杭州*** | 国省代码： | 浙江;33 |
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| 摘要： | |||
| 搜索关键词： | 通道 颗粒 在位 检测 装置 | ||
1.一种通道内颗粒物的在位式检测装置，所述在位式检测装置包括光源、检测器及分析单元；其特征在于：所述在位式检测装置进一步包括：
安装件；
探头，所述探头固定在所述安装件上，所述探头内具有光学通道和气体通道；所述光源发出的测量光依次穿过所述安装件、光学通道后从所述探头出射；所述气体通道与所述光学通道在测量光束处交汇。
2.根据权利要求1所述的在位式检测装置，其特征在于：所述在位式检测装置进一步包括：
连接件，所述连接件设置在所述探头的气体通道的出口处。
3.根据权利要求2所述的在位式检测装置，其特征在于：所述探头为筒状部件，所述出口是所述筒状部件的径向的相对的两侧位置处具有沿着所述筒状部件的轴向延伸的通孔；所述气体通道和光学通道贯穿所述筒状部件的内部。
4.根据权利要求2 所述的在位式检测装置，其特征在于：所述探头包括：
第一平板，所述第一平板的一端固定在所述安装件上；
第二平板，所述第二平板的一端固定在所述安装件上，所述第一平板和第二平板之间的距离大于零；所述出口是所述第一平板和第二平板的侧部间间隙，所述气体通道和光学通道形成在所述第一平板和第二平板之间的空间内。
5.根据权利要求4所述的在位式检测装置，其特征在于：所述第一平板和第二平板平行设置。
6.根据权利要求1所述的在位式检测装置，其特征在于：所述安装件是法兰。
7.根据权利要求1所述的在位式检测装置，其特征在于：所述探头的内壁和外壁具有黑色涂层。
8.根据权利要求4所述的在位式检测装置，其特征在于：所述侧部是所述第一平板和第二平板的平行于所述测量光束的一侧。
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