[实用新型]微阵列芯片点样质量自动化判断系统有效
申请号: | 201520502922.2 | 申请日: | 2015-07-10 |
公开(公告)号: | CN204989038U | 公开(公告)日: | 2016-01-20 |
发明(设计)人: | 李勐;赵雷;黄明辉 | 申请(专利权)人: | 港龙生物技术(深圳)有限公司 |
主分类号: | G01N21/84 | 分类号: | G01N21/84 |
代理公司: | 深圳市科吉华烽知识产权事务所(普通合伙) 44248 | 代理人: | 韩英杰 |
地址: | 518057 广东省深圳市南山区高新区中区高新*** | 国省代码: | 广东;44 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 阵列 芯片 质量 自动化 判断 系统 | ||
1.微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,包括:微阵列芯片,扫描仪,计算机软件数字化装置,以及软件对比装置,所述微阵列芯片的组成包括基片,基片上设置点位,以及DNA探针、IC探针、PC探针、NC探针、VE探针、空白对照探针,各探针与点位对应,和空白点。
2.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述微阵列芯片设置检测26种HPV病毒不同基因型的DNA探针,并预留8个可扩展点位。
3.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述基片的4个“顶点”标记画出1个独立区域,该区域即为一个微阵列芯片,点位分为a-j行,和w-z列,每3个点位为1列。
4.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述可扩展点位位于e行x列点位,h行w列点位,h行y列点位,h行z列点位,和i行全部点位。
5.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,进一步包括内对照探针,所述内对照探针设置于a行w列点位;阳性对照探针设置于a行z列点位;阴性对照探针设置于j行y列点位;表面化学质控点探针设置于j行z列点位;空白对照探针设置于j行x列点位;空白点设置于j行w列点位,DNA探针位于其余点位。
6.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,每个探针对3个连续点位重复检测。
7.根据权利要求2所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,每个DNA探针不同,依次为HPV16、18、31、33、35、39、45、51、52、56、58、59、68、6、11、40、42、43、44、53、54、55、57、66、67、73型DNA探针。
8.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,所述软件对比装置,可以同时对936颗芯片进行分析,并自行与设定参数进行对比以确定每颗芯片的质量情况并出具报告。
9.根据权利要求1所述的微阵列芯片点样质量自动化判断系统,其特征在于,其特征在于,所述基片为玻璃、尼龙膜、硅片、塑料或者陶瓷。
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