[实用新型]液晶显示面板的测试装置

说明书

技术领域

本实用新型涉及测试技术领域，特别涉及一种液晶显示面板的测试装置。

背景技术

液晶显示装置(LiquidCrystalDisplay，LCD)具备轻薄、节能、无辐射等诸多优点，因此已经逐渐取代传统的阴极射线管(CRT)显示器。目前液晶显示装置被广泛地应用于高清晰数字电视、台式计算机、个人数字助理(PDA)、笔记本电脑、移动电话、数码相机等电子设备中。

对于液晶显示装置的测试来说，中大尺寸的液晶显示装置的信号输入接口已经标准化，其可以与前端设备例如光学测试机台的输出接口进行匹配，以接收光学测试机台输出的低电压差分信号(LowVoltageDifferentialSignaling，LVDS)。但是，对于移动产业处理器接口(MobileIndustryProcessorInterface，MIPI)的小尺寸液晶显示装置来说，液晶显示装置接收光学测试机台输出的LVDS信号时，必须对LVDS信号进行进一步处理，使其与MIPI接口匹配，进而获取光学测试机台输出的LVDS信号。此外，小尺寸的液晶显示装置在进行测试时，必须对液晶显示装置的驱动芯片(DriverIC)进行参数配置，也就是说，液晶显示装置需要接收到DriverIC的配置参数，将DriverIC配置完善后即可接收到前端设备输出的图像信号。

图1为现有技术中小尺寸液晶显示装置的测试装置模块示意图。如图1所示，该测试装置包括LVDS解码器12、现场可编程门阵列(Field－ProgrammableGateArray，FPGA)14、单片机(MCU)16以及MIPI编码器18。其中，单片机16中烧录有液晶显示装置的DriverIC的配置参数，该配置参数包括初始化配置参数与时序参数，单片机16将配置参数发送至MIPI编码器18，由MIPI编码器18对其进行编码以转换为MIPI信号.进而将转换后的MIPI信号发送至后端的液晶显示装置，对液晶显示装置的DriverIC进行参数配置，液晶显示装置再接收到光学测试机台10输出的图像信号，进而实现液晶显示装置的测试。

然而，由于液晶显示装置的DriverIC中的时序参数由烧录到单片机16中的程序而定，而光学测试机台10中图像信号的时序参数来自光学测试机台10，当光学测试机台10设置的图像信号的时序参数与烧录到单片机中的程序时序参数不一致时，将会造成液晶显示装置无法进行正常的测试，甚至不能点亮液晶显示面板。此外，液晶显示装置的DriverIC的初始化配置参数也由烧录到单片机16中的程序而定，当需要测试不同机种或不同尺寸的液晶显示装置时，需要重新将初始化配置参数烧录到单片机16中，效率低下，操作复杂，不便于不同机种的液晶显示装置的测试，且烧录次数增加可能会造成单片机16的损坏，增加了成本。

因此，有必要提供改进的技术方案以克服现有技术中存在的以上技术问题。

实用新型内容

鉴于以上问题，本实用新型提供一种液晶显示面板的测试装置，其可确保液晶显示面板的正常测试，且操作方便、成本低。

本实用新型提供一种液晶显示面板的测试装置，所述测试装置包括用于对前端设备输出的图像信号进行解码的解码器；用于对所述解码器解码后的数据进行处理的第一处理器，所述第一处理器与所述解码器连接；用于存储第一数据的存储器；用于根据所述第一处理器处理后的第二数据读取所述存储器中的第一数据的第二处理器，所述第二处理器与所述第一处理器以及所述存储器连接；以及用于输出测试信号至液晶显示面板的编码器；所述编码器与液晶显示面板、所述第一处理器以及所述第二处理器连接，其中，所述第一数据包括液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数，所述第二数据包括所述驱动芯片的时序参数。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第一数据包括至少一种液晶显示面板的驱动芯片的初始化配置参数。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第二数据还包括像素时钟信号、行同步信号、场同步信号、数据使能信号以及像素信号。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的解码器为低电压差分信号解码器。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的编码器为移动产业处理器接口信号编码器。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第一处理器为现场可编程门阵列。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第二处理器为进阶精简指令集微处理器。

进一步地，液晶显示面板测试装置中的第二处理器与所述编码器、所述存储器之间的通信方式为串行通信。