[实用新型]CVT高压试验的换线装置及CVT高压试验装置有效

专利信息
申请号: 201520539938.0 申请日: 2015-07-22
公开(公告)号: CN204789832U 公开(公告)日: 2015-11-18
发明(设计)人: 张宁;艾庆遥;陈灿 申请(专利权)人: 广东电网有限责任公司中山供电局
主分类号: G01R31/00 分类号: G01R31/00;G01R27/26;G01R27/02
代理公司: 广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 代理人: 王程
地址: 528437 广*** 国省代码: 广东;44
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摘要:
搜索关键词: cvt 高压 试验 线装 试验装置
【权利要求书】:

1.一种CVT高压试验的换线装置,其特征在于,包括:

第一测试电路,包括第一测试导线、高压线、第一控制开关和第二控制开关;所述高压线依次包括高压芯线及高压屏蔽层,所述高压屏蔽层包覆所述高压芯线;所述第一控制开关包括与第一测试导线连接的第一固定端、分别连接所述高压线的所述高压芯线和所述高压线的所述高压屏蔽层的第一选择端和第二选择端;所述第二控制开关包括与所述连接导线连接的第二固定端、分别连接所述高压线的所述高压芯线和所述高压线的所述高压屏蔽层的第三选择端和第四选择端;

第二测试电路,包括第二测试导线、测量线和第三控制开关;所述第三控制开关包括与所述第二测试导线连接的第三固定端、分别连接所述连接导线和所述测量线的第五选择端和第六选择端;

连接导线,连接在所述第二控制开关的第二固定端与所述第三控制开关的第五选择端之间。

2.根据权利要求1所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,还包括:

第一屏蔽盒,所述第一测试电路设于所述第一屏蔽盒内,所述高压线及所述第一测试导线分别穿过所述第一屏蔽盒与外界连通;所述高压线的所述高压屏蔽层与所述第一屏蔽盒外壳接触;

所述连接导线穿过所述第一屏蔽盒,分别连接所述第二控制开关的第二固定端与所述第三控制开关的第五选择端。

3.根据权利要求2所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,所述第一测试导线依次包括第一芯线、第一屏蔽层及第一地接层,所述第一屏蔽层位于所述第一芯线与所述第一地接层之间;所述第一屏蔽层与所述第一屏蔽盒外壳接触,所述第一芯线与所述第一控制开关的所述第一固定端连接,所述第一地接层接地。

4.根据权利要求1~3任意一项所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,还包括:

第二屏蔽盒,所述第二测试电路设于所述第二屏蔽盒内,所述测量线及所述第二测试导线分别穿过所述第二屏蔽盒与外界连通;所述第二测试导线的所述第二屏蔽层与所述第二屏蔽盒外壳接触;

所述第二测试导线依次包括第二芯线、第二屏蔽层及第二地接层,所述第二屏蔽层位于所述第二芯线与所述第二地接层之间;所述第二屏蔽层与所述第二屏蔽盒外壳接触,所述第二芯线与所述第三控制开关的所述第三固定端连接,所述第二地接层接地;

所述连接导线穿过所述第一屏蔽盒与所述第二屏蔽盒,分别连接所述第二控制开关的第二固定端与所述第三控制开关的第五选择端。

5.根据权利要求4所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,所述连接导线包括连接导线芯线及连接导线屏蔽层,所述连接导线屏蔽层包覆所述连接导线芯线;所述连接导线芯线分别连接所述第二控制开关的第二固定端和所述第三控制开关的第五选择端;所述连接导线屏蔽层与所述第一屏蔽盒外壳接触,且与所述第二屏蔽盒外壳非接触。

6.根据权利要求5所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,所述CVT高压试验的换线装置还包括第四控制开关,所述测量线依次包括测量芯线和测量地接层;所述测量地接层包覆所述测量芯线;所述第四控制开关包括与第二屏蔽盒外壳连接的第四固定端、分别连接所述连接导线的所述屏蔽层和所述测量线的所述测量地接层的第七选择端和第八选择端;所述测量芯线与所述第三开关的第六选择端连接,所述测量地接层与所述第二屏蔽盒外壳非接触并接地。

7.根据权利要求1所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,所述高压线还包括高压地接层,所述高压屏蔽层位于所述高压芯线与所述高压地接层之间,所述高压地接层接地。

8.根据权利要求1所述的CVT高压试验的换线装置,其特征在于,还包括绝缘盒,所述连接导线、所述第一测试电路及所述第二测试电路均置于所述绝缘盒内,所述第一测试导线的一端、所述第二测试导线的一端、所述高压线的一端及所述测量线的一端分别穿过所述绝缘盒与外界连通。

9.一种CVT高压试验装置,其特征在于,包括测试仪及如权利要求1~8任意一项所述的CVT高压试验的换线装置;所述CVT高压试验的换线装置的所述第一测试导线与所述第二测试导线分别与待测试的CVT连接,所述CVT高压试验的换线装置的所述高压线与所述测量线分别与所述测试仪连接。

10.根据权利要求9所述的CVT高压试验装置,其特征在于,所述测试仪包括用于测量CVT中电容的介损和电容量参数的介损测试仪和用于测量CVT中电容的绝缘电阻参数的绝缘电阻测试仪。

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