[实用新型]一种非接触式键槽宽度测量装置

说明书

【技术领域】

本实用新型涉及精密测量仪器技术领域，特别涉及一种非接触式键槽宽度测量装置。

【背景技术】

目前国内外非接触式检测装置多为气动检测量仪，测量精度高，广泛应用于各种机械加工的外圆及内孔尺寸的测量，但对于键槽等小平面或结构特殊的尺寸测量基本使用塞板。我公司中间轴长键槽宽尺寸精度较高，由于是产品关键特性，需要100％检测，塞板磨损报废寿命短，易造成质量隐患，成本上升。

【实用新型内容】

为解决现有技术中存在的问题，本实用新型提供了一种非接触式键槽宽度测量装置，该装置测量简单、准确，使用方便，提高测量精度的同时降低生产成本。

为达到上述目的，本实用新型采用以下技术手段：

一种非接触式键槽宽度测量装置，包括测量仪，所述测量仪包括槽宽测头和手柄；所述的槽宽测头一端为测量端，另一端为固定端，槽宽测头内部从固定端向测量端开设有盲孔结构的气道，测量端上设置有两个气流孔，两个气流孔和气道相连通；手柄内设置空腔，固定端与手柄的空腔内壁螺旋连接，槽宽测头的固定端与设置在空腔内的铜质连接头连接，连接头与浮标显示仪的气管连接，气道与气管相连通。

所述的槽宽测头的测量端为四方体结构，末端倒圆角，四方体结构的断面为正方形或长方形，槽宽测头的宽度小于被测键槽的宽度。

所述的两个气流孔中心线重合，且其中心线与气道的中心线垂直。

所述的固定端上设置有测头连接部；手柄一侧与测头连接部接触。

所述的连接头为铜质的连接头。

还包括四方体结构的校对规，校对规上开设有上公差校准键槽和下公差校准键槽；上公差校准键槽的槽宽为被测键槽的上公差值，下公差校准键槽的槽宽为被测键槽的下公差值。

所述的上公差校准键槽和下公差校准键槽分别设在校对规相对的两个面上；上公差校准键槽和下公差校准键槽的结构与被测键槽的结构一致。

相对与现有技术，本实用新型具有以下优点：

本实用新型的测量仪以气体为介质，通过非接触式气动检测键槽宽度，设计适用于键槽宽度测量的测头。通过气动的测头，在浮标显示仪上的读数，可以准确的测试键槽的宽度。解决了高精度槽宽的计量问题；提升了检具的耐用度，进而稳定质量，控制工具的投入成本。本气动量仪几乎不磨损，检具的可靠性增加，工件精度稳定性增加，检具的送检率减少，检测成本降低，每年可节省约5万元由于卡板报废造成的成本。

进一步，配合校对规的使用，先进行校对规键槽的测试，设置键槽宽度在显示仪上的范围，使测量键槽只通过浮标显示仪的指针变化，就能够判断键槽是否合格，使测试更加方便实用。

【附图说明】

图1是本实用新型测量仪的示意图；

图2是本实用新型校对规的主视图。

其中，1、气流孔；2、槽宽测头3、气道，4、测头连接部，5、连接头；6、手柄；7、上公差校准键槽；8、校对规；9、下公差校准键槽。

【具体实施方式】

下面结合附图和具体实施例对本实用新型做进一步说明，本实用新型不限于以下实施例。

如图1所示，本实用新型一种非接触式键槽宽度测量装置，包括测量仪，所述测量仪包括槽宽测头2和手柄6，槽宽测头2一端为测量端，另一端为固定端，槽宽测头2内从固定端向测量端开设有盲孔结构的气道3，测量端上设置有两个气流孔1，两个气流孔1中心线重合，且均和气道3相连通。固定端上设置有测头连接部4。手柄6内设置空腔，固定端与手柄6的空腔内壁螺旋连接，手柄6与测头连接部4接触。槽宽测头2的固定端还与设置在空腔内的铜质连接头5过盈配合连接，连接头5与浮标显示仪的气管连接，气道3与气管相连通。槽宽测头2的测量端为四方体结构，其断面为正方形或长方形，槽宽测头2的宽度小于被测键槽的宽度。

如图2所示，本装置还包括校对规8，校对规8为四方体结构，在相对的两个面上设置分别开设有上公差校准键槽7和下公差校准键槽9。上公差校准键槽7的槽宽为被测键槽的上公差值，下公差校准键槽9的槽宽为被测键槽的下公差值。

组装时，槽宽测头2的固定端与连接头5固定后，将浮标显示仪的气管与连接头5快插固定，然后宽测头2的固定端与手柄6螺旋固定，实现了非接触式键槽宽度测量装置的组装。需要拆卸更换测头2时，顺序相反。

实际使用步骤如下：

1)将测量装置的测头2与校对规8与普通浮标显示仪的气管相接。

2)使用校对规8调节浮标显示仪，显示仪上下指针对应被测键槽工件上下公差。

3)若工件公差较大则使用大量程浮标显示仪。

4)将测量仪的测头2垂直插入键槽，并沿键槽长度方向轻轻滑动，若浮标在上下指针内工件即为合格。