[实用新型]一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置有效
申请号: | 201520571374.9 | 申请日: | 2015-08-03 |
公开(公告)号: | CN204855350U | 公开(公告)日: | 2015-12-09 |
发明(设计)人: | 陈基平;林星;徐璐 | 申请(专利权)人: | 福建科彤光电技术有限公司 |
主分类号: | G01N21/01 | 分类号: | G01N21/01 |
代理公司: | 北京京万通知识产权代理有限公司 11440 | 代理人: | 万学堂 |
地址: | 350014 福建省福州*** | 国省代码: | 福建;35 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 一种 用于 激光 晶体 检测 装置 | ||
技术领域
本实用新型涉及激光晶体检测设备,特别是一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置。
背景技术
消光比是衡量激光晶体性能优劣的重要指标,它的定义如下:将晶体放置在两平行偏光镜间和两正交偏光镜间,使用光源从晶体一端入射,在出射端测量光功率,分别得到两个值A和B,消光比即A和B之比取对数再乘以10。我们在使用激光晶体之前,需要了解与掌握晶体的各种性质,包括其物理和激光特性等,才能判断某种晶体是否满足我们的使用要求。同时,激光晶体的质量,直接影响使用者实验的准确性和研究价值。例如晶体的消光比对于出射激光的光束质量有直接的影响。
在做激光晶体消光比检测前需要对激光光路作一些调整检测,这就需要用到一些标靶设备。目前使用比较普遍的是双光阑法,在调节光源角度后需要调整第一个光阑使光路刚好从其中央穿过或者光源使其发出光纤刚好从第一个光阑中央通过,在反复调整中增加大量操作而且容易在调节过程中造成新的歪斜度;在调节不可见管光路系统时将红外感应片贴近光阑观察光斑是否位于光阑中央的精确度也受红外感应片与光阑平面角度的影响。
实用新型内容
为了解决上述问题,本实用新型提供了一种使用方便可靠,可快速辅助调节激光光路的激光晶体消光比检测用标靶装置。
一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置,包括底座,底座上设有导轨滑槽,底座上方设有水平位移调节台,水平位移调节台上方设有垂直位移调节台,垂直位移调节台上方设有水平角位移调节台,水平角位移调节台上方设有标靶台,标靶台上设有标靶和水准泡,标靶上设有十字形标线。
优选地,所述标靶为倍频片,倍频片标靶在调整不可见光光路时不受倍频片平面与光路轴线切线所成角度影响。
优选地,所述水准泡设有刻度,精度为5′。高精度的水准泡可以为调试员调试提供参考,使调试员快速发现问题,有利于提高调试员的工作效率。
本实用新型提供的一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置,简单实用,不容易偏离准线,可以帮助调试人员快速有效的调整好设备,减少工作量的同时提高了他们的工作效率,是一个非常棒的产品结构设计。
附图说明
图1为本实用新型一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置使用结构示意图;
图2为本实用新型一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置的标靶结构示意图;
图3为本实用新型一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置的标靶台结构示意图。
图1-3中,1为激光发射台,2为导轨,3为底座,4为水平位移调节台,5为垂直位移调节台,6为水平角位移调节台,7为标靶台,8为标靶,9为十字形标线,10为水准泡。
具体实施方式
为了更好的对本实用新型进行阐述,下面将结合附图作详细说明。
如图1-3所示,一种用于激光晶体消光比检测的标靶装置,包括底座3,底座3上设有导轨滑槽,底座3上方设有水平位移调节台4,水平位移调节台4上方设有垂直位移调节台5,垂直位移调节台5上方设有水平角位移调节台6,水平角位移调节台6上方设有标靶台7,标靶台7上设有标靶8和水准泡10,标靶7上设有十字形标线9。标靶8为倍频片,水准泡10设有刻度,精度为5′。
工作时,激光发射机1发射激光,标靶装置在导轨2上滑动到距离激光发射机1较近的位置,然后观察水准泡10以及调节各参数,接着慢慢滑动标靶装置,观察光斑在标靶8上的位置变化,作进一步调整,直至标靶装置在导轨2各点位置上的光斑都符合要求时,调试结束,接着做激光晶体消光比检测试验。
上述具体实施方式不能认为是对本实用新型的进一步限定,本领域技术人员根据本实用新型内容作出的非实质性改变均应落入本实用新型保护范围内。
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