[实用新型]低透过率机械斩波模拟器

说明书

技术领域

本实用新型涉及旋光糖量计低透过率计量校准技术。

背景技术

旋光糖量计在低透过率测定的计量性能评定时，无法进行深颜色样品、低透过率样品测定时的低透过率测试条件的可复现模拟，而现有技术中没有对旋光糖量计低透过率模拟器的研究，对旋光糖量计低透过率计量校准技术的研究还是空白，导致旋光糖量计在低透过率时的测量不准确。

实用新型内容

本实用新型是为了解决现有技术无法进行低透过率样品测定时的低透过率测试条件的可复现模拟，无法对旋光糖量计在低透过率情况下的计量性能进行评定的问题，从而提供低透过率机械斩波模拟器。

本实用新型所述的低透过率机械斩波模拟器，它包括测试座上座、测试座下座、高速直流电机和扇形斩光片；

测试座下座的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机放置并固定于测试座上座和测试座下座构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机的转轴轴心重合，高速直流电机的转轴轴心与扇形斩光片的轴心重合，扇形斩光片的中心与高速直流电机的转轴固定连接，扇形斩光片上开有缺口。

上述扇形斩光片缺口的角度为3.6°或36°。

上述扇形斩光片有两个缺口，两个缺口在扇形斩光片上对称分布。

它还包括斩光片下盖和前挡板；

斩光片下盖和前挡板均为圆弧形。

斩光片下盖固定在测试座上座的一个侧面上，前挡板与斩光片下盖固定连接，且前挡板的弧形边缘向内延伸至斩光片下盖的边缘，扇形斩光片放置于前挡板和斩光片下盖之间。

它还包括两套平衡调节螺丝与锁紧螺丝，两套平衡调节螺丝与锁紧螺丝对称分布在测试座下座的底面上。

本实用新型所述的低透过率机械斩波模拟器在使用时，将标准旋光管放置于测试座下座底面的半圆柱形凹槽中，调节两套平衡调节螺丝和锁紧螺丝可以使低透过率机械斩波模拟器水平平衡，斩光片下盖与前挡板对工作中高速旋转的扇形斩光片起到保护作用。使用中，高速直流电机带动扇形斩光片对通过标准旋光管的光强度进行分割，达到模拟低透过率的效果。根据需要的透过率选择扇形斩光片缺口的角度，例如当缺口的角度为36°时，光源的透过率为10％，当缺口的角度为3.6°时，光源的透过率为1％。本实用新型可以方便、快捷地提供低透过率的模拟测试条件，同时可以结合标准旋光管的使用，对旋光糖量计低透过率示值误差进行计量性能评价，填补了旋光糖量计低透过率计量校准技术研究的空白。本实用新型所述的低透过率机械斩波模拟器用以模拟低透过率情况下的测试样品状态，保证在该状态下，旋光糖量计测定条件的模拟复现，使旋光糖量计能够实现准确溯源。本实用新型所述的低透过率机械斩波模拟器的技术指标满足旋光糖量计检定校准的要求。

附图说明

图1是具体实施方式一所述的低透过率机械斩波模拟器的结构示意图。

图2是具体实施方式一中测试座下座的结构示意图。

图3是图2的俯视图。

图4是图2的右视图。

图5是具体实施方式一中测试座上座的结构示意图。

图6是图5的A-A向剖视图。

图7是图5的俯视图。

图8是具体实施方式一中扇形斩光片的结构示意图。

图9是图8的B-B向剖视图。

图10是具体实施方式四中斩光片下盖的结构示意图。

图11是图10的C-C向剖视图。

图12是具体实施方式四中前挡板的结构示意图。

图13是图12的D-D向剖视图。

具体实施方式

具体实施方式一：参照图1至图9具体说明本实施方式，本实施方式所述的低透过率机械斩波模拟器，它包括测试座上座1、测试座下座2、高速直流电机8和扇形斩光片5；

测试座下座2的上下两个表面均设有半圆柱形凹槽，测试座上座1的下表面设有半圆柱形凹槽，高速直流电机8放置并固定于测试座上座1和测试座下座2构成的圆柱形凹槽中，且该圆柱形凹槽的中心轴与高速直流电机8的转轴轴心重合，高速直流电机8的转轴轴心与扇形斩光片5的轴心重合，扇形斩光片5的中心与高速直流电机8的转轴固定连接，扇形斩光片5上开有缺口。

具体实施方式二：本实施方式是对具体实施方式一所述的低透过率机械斩波模拟器作进一步说明，本实施方式中，扇形斩光片5缺口的角度为3.6°或36°。