[实用新型]一种测试编带机的芯片探测装置

权利要求书

1.一种测试编带机的芯片探测装置，用于连接芯片与测试设备进行检测，其特征在于，包括探测头夹具和驱动探测头夹具活动的驱动机构，所述探测头夹具包括两个主干臂，两个主干臂的中心位置铰接于一转轴，两个主干臂的端头与所述转轴之间设有连接两个主杆的一拉簧，所述主干臂的端头延伸出两个分枝臂，所述两个主干臂共延伸出八个分枝臂，每个分枝臂设有与芯片触脚对应的弹性电极探针，所述驱动机构包括一底座、固定至底座上的减速电机以及与减速电机传动相连的丝杆组件，所述丝杆组件的丝杆的两端通过轴承座固定至底座上，所述丝杆的一端通过联轴器与减速电机的动力输出轴连接，所述探测头夹具的两主干臂的转轴固连至丝杆组件的滑块，所述两主干臂之间设有一凸块，所述凸块固连至底座上，所述凸块位于所述丝杆的轴心线的同一直线上。

2.根据权利要求1所述的测试编带机的芯片探测装置，其特征在于，所述弹性电极探针的一端为一弹性触头，另一端通过导线与测试设备连接，所述导线与弹性触头连接。

3.根据权利要求2所述的测试编带机的芯片探测装置，其特征在于，所述一个主干臂端头延伸出的两个分枝臂互相垂直，且每个分支臂和与该主干臂的夹角均为135度。

4.根据权利要求3所述的测试编带机的芯片探测装置，其特征在于，所述滑块在转轴的两侧分别设有两个限位柱。

5.根据权利要求4所述的测试编带机的芯片探测装置，其特征在于，所述凸块为圆柱体或椭圆柱体。

6.根据权利要求5所述的测试编带机的芯片探测装置，其特征在于，所述主干臂端头延伸出的两个分枝臂与主干臂一体成型。

7.根据权利要求6所述的测试编带机的芯片探测装置，其特征在于，还包括与探测头夹具配合的真空吸嘴装置，所述真空吸嘴装置包括一个吸嘴架和固连至吸嘴架的四个真空吸嘴，所述四个真空吸嘴的位置与探测头夹具中固定待测芯片的位置对应。