[实用新型]电子锁测试装置及系统有效

专利信息
申请号: 201520647675.5 申请日: 2015-08-25
公开(公告)号: CN205038057U 公开(公告)日: 2016-02-17
发明(设计)人: 张泽 申请(专利权)人: 张泽
主分类号: G01M99/00 分类号: G01M99/00
代理公司: 北京康信知识产权代理有限责任公司 11240 代理人: 韩建伟;张永明
地址: 200040 上海市徐*** 国省代码: 上海;31
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摘要:
搜索关键词: 电子锁 测试 装置 系统
【说明书】:

技术领域

实用新型涉及锁具领域,具体而言,涉及一种电子锁测试装置及系统。

背景技术

如今随着技术的发展,智能电子锁得到广泛普及,用户数量不断增加,例如,越来越多的人不再携带与不同锁具匹配的不同钥匙,而是通过输入不同的密码,来直接打开对应的房门。进一步,为了保证可以向用户提供高质量的电子锁,对电子锁进行必要的性能测试就成为生产过程中不可或缺的一个重要环节。

目前现有技术中常用的锁具测试方法是采用人工操作方式,具体而言,就是将样品锁具安装在门或锁架上,由专人对智能锁具进行解锁、开门、关门和上锁动作,同时记录操作次数及测试过程中存在的问题。然而,由于性能测试需要反复多次执行上述解锁、开门、关门和上锁动作,其次数可能多达几万次,甚至十几万次,显然,采用上述方式对智能锁具进行性能测试的测试效率较低,测试周期也较长。

针对上述的问题,目前尚未提出有效的解决方案。

实用新型内容

本实用新型实施例提供了一种电子锁测试装置及系统,以至少解决现有技术中人工重复执行对锁具的测试操作所导致的测试效率较低的技术问题。

根据本实用新型实施例的一个方面,提供了一种电子锁测试装置,包括:转动部件,通过转动支架固定在底座上;模拟解锁装置,与上述转动部件连接,用于在与待测电子锁相对的目标位置上解锁上述待测电子锁,其中,上述模拟解锁装置在上述转动部件的带动下向上述目标位置所在方向转动;把手驱动部件,包括靠近于上述待测电子锁的把手的把手滑竿,用于在成功解锁上述待测电子锁的状态下,驱动上述把手滑竿执行下压动作,以使上述把手滑竿下压上述待测电子锁的把手;控制部件,与上述模拟解锁装置及上述把手驱动部件连接,用于控制上述模拟解锁装置及上述把手驱动部件动作。

可选地,上述转动部件与一个或多个上述模拟解锁装置连接。

可选地,上述模拟解锁装置包括:门卡解锁装置,其中,上述门卡解锁装置包括:门卡支架,安装于上述转动部件的第一端,用于固定门卡,其中,上述门卡用于解锁上述待测电子锁;门卡支架驱动电机,与上述门卡支架连接,用于驱动上述门卡支架移动至上述目标位置,以使上述门卡支架上的上述门卡处于上述待测电子锁的电子锁刷卡区域。

可选地,上述门卡支架为伸缩结构,其中,上述门卡支架的长度根据与上述待测电子锁相对的上述目标位置进行调节。

可选地,上述模拟解锁装置包括:密码解锁装置,其中,上述密码解锁装置包括:按键器,安装于上述转动部件的第二端,用于通过对上述待测电子锁进行按键操作,向上述待测电子锁输入密码。

可选地,上述把手驱动部件包括:上述把手滑竿,通过滑竿支架固定在上述转动支架上,用于在成功解锁上述待测电子锁的状态下,在预定时间内持续下压上述待测电子锁的上述把手;滑竿驱动电机,与上述把手滑竿连接,用于驱动上述把手滑竿执行上述下压动作。

可选地,上述装置还包括:检测部件,与上述把手滑竿连接,用于在检测到上述把手滑竿复位后,向上述控制部件发送复位信号;上述控制部件,与上述检测部件连接,用于记录上述待测电子锁的测试次数。

可选地,上述待测电子锁为无线电子锁时,上述装置还包括:无线通讯部件,与上述无线电子锁连接,用于接收通过无线信号发送的解锁上述无线电子锁的解锁指令。

根据本实用新型实施例的另一方面,还提供了一种电子锁测试系统,包括:如上述的电子锁测试装置;上述待测电子锁;门板,安装在底座上,其中,上述门板侧面设置有上述待测电子锁的斜锁舌;门框,与上述门板匹配,用于围绕门框转轴转动,其中,上述门框设置有与上述斜锁舌匹配的锁舌孔;门框驱动电机,用于驱动上述门框转动,以完成开门或关门动作。

可选地,上述系统还包括:微动开关,安装在上述待测电子锁的上述斜锁舌处,用于检测上述斜锁舌的动作;计数器,与上述微动开关连接,用于计数上述斜锁舌的动作次数。

在本实用新型实施例中,通过本申请提供的实施例,在转动部件围绕转动支架转动时,转动部件将带动与其连接的模拟解锁装置实现同步转动,以便于模拟解锁装置向与待测电子锁相对的目标位置的所在方向转动,并在模拟解锁装置处于与待测电子锁相对的目标位置时,对待测电子锁进行自动解锁,通过这种自动解锁的方式,实现提高电子锁的解锁效率,进一步,在对电子锁进行性能测试的过程中,实现提高电子锁的测试效率,进而避免现有技术中由于人工重复执行对锁具的测试操作(例如解锁、开门、关门和上锁动作)所导致的测试效率较低的问题。

附图说明

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