[实用新型]具有单层多晶的NVDRAM有效

专利信息
申请号: 201520649945.6 申请日: 2015-08-26
公开(公告)号: CN204884570U 公开(公告)日: 2015-12-16
发明(设计)人: 方钢锋 申请(专利权)人: 苏州锋驰微电子有限公司
主分类号: G11C11/4063 分类号: G11C11/4063
代理公司: 无锡市大为专利商标事务所(普通合伙) 32104 代理人: 曹祖良;韩凤
地址: 215634 江苏省*** 国省代码: 江苏;32
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摘要:
搜索关键词: 具有 单层 多晶 nvdram
【说明书】:

技术领域

本实用新型涉及一种NVDRAM,尤其是一种具有单层多晶的NVDRAM,属于半导体技术领域。

背景技术

NVDRAM(Nonvolatile-DynamicRandomAccessMemory)具有快速烧写和读取,以及在掉电后保存数据的性能。此外,NVDRAM具备了DRAM和flash的功能,把两个不同功能的存储器用一个存储器来实现,使用起来其外围的线路板上只需一套对应的接口,大大的简化了线路板。

目前的NVDRAM存储器是采用特别的工艺加工制备得到,工艺的研发和制作过程复杂,且非常昂贵,通常需要几年的时间来研发一个半导体的工艺节点。如果能跟标准逻辑工艺相兼容,则可大大降低制造成本。

发明内容

本实用新型的目的是克服现有技术中存在的不足,提供一种具有单层多晶的NVDRAM,这种结构能降低加工成本以及工艺复杂度。

按照本实用新型提供的技术方案,所述的具有单层多晶的NVDRAM,其每个基本存储单元包括第一MOS晶体管、第二MOS晶体管、第一MOS电容和第二MOS电容;第一MOS晶体管浮栅接字线wordline,漏端接位线bitline,衬底是N阱;第二MOS晶体管浮栅接第一MOS电容的浮栅,第二MOS晶体管漏端接编程位线Pbitline,衬底是N阱;第一MOS电容漏端接编程字线Pwordline,衬底是P阱;第二MOS电容的浮栅接电容线Capline,衬底是N阱;第一MOS晶体管源端、第二MOS晶体管的源端和第二MOS电容的漏端相连;所述第一MOS晶体管为PMOS管或NMOS管,第二MOS晶体管为PMOS管,第一MOS电容为NMOS电容或PMOS电容,第二MOS电容为PMOS电容。

其中,所述第一MOS电容、第二MOS电容的源端是悬挂的,或为没有源端只有3端的MOS电容。

第一MOS电容比第二MOS晶体管的电容值至少大4倍。

此种NVDRAM的结构中只有一层浮栅。

本实用新型的优点是:本实用新型的NVDRAM可与singlepoly逻辑工艺兼容,可以兼具DRAM快速随机读取数据和NVMRAM的掉电仍保存数据的功能。这样就把本来是两块不同工艺的DRAM和NVMRAM结合在一起,既降低成本又有新功能的应用。

附图说明

图1是本实用新型一种实施例的结构示意图。

具体实施方式

下面结合附图和实施例对本实用新型作进一步说明。

如图1所示,本实用新型的NVDRAM实施例中,每个基本存储单元包含两个PMOS晶体管PMOS1、PMOS2,一个NMOS电容NMOScap,和一个PMOS电容PMOScap。

a).PMOS1的浮栅是接wordline(字线),漏端是接bitline(位线),它的衬底是N阱(NWELL),源端接PMOS2的源端,也接PMOScap的漏端。

b).PMOS2的浮栅接NMOScap的浮栅,漏端是接Pbitline,它的衬底是NWELL,源端接PMOS1的源端,也接PMOScap的漏端。

c).NMOScap的浮栅接PMOS2的浮栅,漏端是接Pwordline,它的衬底是PWELL跟整个芯片的PSUB是相通的,源端是悬挂的,或没有源端只有3端的NMOScap。

d).PMOScap的浮栅是接Capline,漏端接PMOS1和PMOS2的源端,它的衬底是NWELL,源端是悬挂的,或没有源端只有3端的PMOScap。

表1为本实用新型在不同模式下的工作电压,以下结合表1阐述本实用新型的工作方法。

表1

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