[实用新型]耐静电自动筛选系统

说明书

技术领域

本实用新型涉及一种发光二极管的耐静电测试的设计，特别是涉及一种发光二极管的耐静电自动筛选系统。

背景技术

静电放电(ElectroStaticDischarge，ESD)是因为两物质的相互接触或分开而产生，此过程称为摩擦起电(triboelectriccharging)，是关于带有不同电位的两物质间电荷的迅速地转移。当电荷产生并残留在物体上，会产生静电放电。物体的电荷不平衡将产生电场。同时，累积的静电电场会因为电位能不同而造成电荷转移。此现象就称为静电放电(ESD)。静电放电是半导体业组件故障的主要原因之一。根据美国国家标准学会(ANSI)对半导体产业的调查显示，静电放电伤害导致的平均产品损失在8％～33％。

当高压的静电通过电子组件，将造成电子组件永久性的损害。静电放电造成电子组件的失效有许多模式，例如：漏电、短路、亮度下降或烧毁等。

机械放电模式(MachineModel，MM)是指累积有静电的机械触碰到电子组件，静电通过电子组件，使电子组件失效。机械放电模式的静电通常可以通过接地等方式消除累积于机械中的静电。

另一种最常见的静电放电是直接从人体将静电电荷转移到电子组件上，称为人体模式(HumanBodyModel，HBM)，其也是最难以彻底消除的静电。人体本身的静电可达3kV，且人体所穿的衣物在气候干燥的环境中有时会累积到8kV以上的静电。当一个带有正电位或负电位的人碰触到一组件，瞬间将静电释放到组件上，使一非常高的电压或电流通过组件，而造成组件不可逆的破坏。因此，工作人员必须配备防静电装置。

目前发光二极管的耐静电特性测试方法通常是采用抽测的方式。通过工作人员手持静电枪将静电放电到发光二极管，再测试发光二极管的亮度或电阻值等特性，并依照抽测数量计算发光二极管的失效率。在高抽测率的情况下，计算出的失效率会近似于实际上的失效率。假设计算出的发光二极管具有较高的失效率，可预测大部份的发光二极管无法承受测试电压值的静电。反之，假设计算出的发光二极管具有较低的失效率低，可预测大部份的发光二极管可以承受测试电压值的静电。

实用新型内容

本实用新型所欲解决的技术问题

实施人力抽测须花费较多的劳力及时间成本，因此发光二极管的耐静电特性的抽测率难以提高，导致计算出的失效率与实际上的失效率之间有相当差异，造成计算出的失效率可信度低。

并且，虽然工作人员配备有防静电装置，仍有可能导致发光二极管受到人体模式的静电放电的伤害，而造成发光二极管的失效率增加。

因此，本实用新型的目的是提供一种耐静电自动筛选系统，用于自动化筛选发光二极管，以提高抽测率并同时降低劳力及时间成本，以改善现有技术的问题。

本实用新型解决问题的技术手段

本实用新型为解决现有技术的问题所采用的技术手段为一种发光二极管的耐静电自动筛选系统，包含：检测承台、静电放电装置、点灯装置、点灯评估装置、及分类筛选装置。检测承台，用于承载发光二极管，检测承台上设置有电性传导构件，检测承台沿着自动检测路径自动导送，自动检测路径依序包括静电放电区、点灯评估区及分类筛选区；静电放电区，设置有静电放电装置，静电放电装置在检测承台到达静电放电区时电连接电性传导构件，从而将具有测试电压值的静电通过电性传导构件传递至检测承台上的发光二极管；点灯评估区，设置有点灯装置及点灯评估装置，点灯装置在检测承台到达点灯评估区时电连接电性传导构件，将点灯电源通过电性传导构件传递至检测承台上的发光二极管，点灯评估装置电连接于发光二极管从而传送点灯评估信息；以及分类筛选区，设置有分类筛选装置，连接点灯评估装置，分类筛选装置依据接收的点灯评估信息从而将检测承台上的发光二极管自分类筛选区自动筛选至对应的出口收集区。

在本实用新型的一实施例中，检测承台还包括绝缘构件，电性传导构件设置于绝缘构件上。

在本实用新型的一实施例中，所述的静电放电区还包括正负极排序构件。

在本实用新型的一实施例中，所述的点灯评估区还包括正负极排序构件。

本实用新型相较于现有技术的有益的技术效果

通过本实用新型所采用的技术手段，能够批量化检测发光二极管的耐静电特性，并能够将抽测率大幅地提高到100％，更进一步地提升失效率的可信度，以事先预防交货后可能发生的失效现象，进而提升顾客满意度。

本实用新型所采用的具体实施例，将通过以下的实施例及附图作进一步的说明。

附图说明

图1为本实用新型的第一实施例的耐静电自动筛选系统的示意图。