[实用新型]点测机探针臂恒力机构有效
申请号: | 201520673483.1 | 申请日: | 2015-09-01 |
公开(公告)号: | CN204945190U | 公开(公告)日: | 2016-01-06 |
发明(设计)人: | 张九六;朱国亮 | 申请(专利权)人: | 杭州中为光电技术股份有限公司 |
主分类号: | G01R1/067 | 分类号: | G01R1/067 |
代理公司: | 浙江英普律师事务所 33238 | 代理人: | 陈小良 |
地址: | 310030 浙江省杭州市*** | 国省代码: | 浙江;33 |
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摘要: | |||
搜索关键词: | 点测机 探针 恒力 机构 | ||
技术领域
本实用新型涉及一种机械机构,特别是一种点测机探针臂恒力机械机构。
背景技术
随着科技的高速发展,LED芯片体积越做越小而市场需求越来越大,目前正被迅速普及的LED照明灯具,其发光主体就是形形色色的LED芯片。产品的生产离不开检测,大规模生产的芯片只能依靠全自动设备检测。
芯片检测工序,就是先对芯片通电,然后用仪器测出芯片各种电性参数或光学参数。对芯片通电的方法是用探针针尖抵住芯片的电极,然后给探针接上电源。芯片电极和探针针尖之间的接触压力的控制是测试的重要工序,接触压力小会导致接触电阻大、接触不良以致误检;接触压力大又会将电极压出凹痕从而影响芯片外观和性能。
传统探针臂的设计是:探针固定在一片可以导电的薄板上,薄板可以做上下回摆运动,有一根导线锡焊在薄板上以给探针通电,薄板承受的弹簧往下的压力使探针针尖压住芯片。但是,因芯片只能承受几克力的压力,此时导线也随着探针一起上下摆动,导线内部存在的不规则变化的应力直接影响到针尖与芯片电极的接触压力的变化。
实用新型内容
本实用新型所要解决的技术问题在于,芯片通电测试时,探针针尖与芯片电极的接触压力因受到导线内部不规则变化应力的影响而导致检测成功率低。
本实用新型解决上述技术问题所采用的技术方案是:一种点测机探针臂恒力机构,包括探针臂转接板、导电基板;探针臂转接板在上,导电基板在下,探针臂转接板和导电基板中部通过固定件相枢接,两侧自上而下依次通过微调螺丝、微调弹簧相连接;导线、位于所述导电基板一端的弯针、位于所述弯针上的弯针压板;还包括:
转接端子,其紧固在所述探针臂转接板一侧,用于固定和连接导线;以及
导电缓冲体,其一端通过第一焊接点焊接在所述导电基板上,另一端通过第二焊接点焊接在所述转接端子上;
其中,所述第一焊接点和所述第二焊接点所在直线与所述固定件的轴线垂直相交,因此所述导电缓冲体对所述轴线的力矩接近于零,所述弯针运动时,所述导电缓冲体所产生的力矩转换到所述弯针对待测芯片的压力就微乎其微;
所述导线依次通过所述转接端子、所述导电缓冲体、所述导电基板与所述弯针电导通,实现对待测芯片的通电。
优选地,所述导电基板是印刷电路板即PCB板或是内含导电线路的绝缘薄板。
优选地,所述导电缓冲体是导电缓冲弹簧,利用成熟的弹簧力学性能,使芯片电极与导电基板之间的接触压力得到精确控制。
本实用新型同现有技术相比具有以下优点及效果:
由于采用导线焊接位置的特殊设计,加之导电缓冲体的引入,基本上消除了导线内部应力对探针针尖与芯片电极之间接触压力的影响,规避了现有技术中因不能预判或后续控制导致的导线对接触压力的影响,使芯片检测工序过程中接触压力得以精确控制,保证了芯片的质量,降低了漏检率和报废率。
附图说明
为了更清楚地说明本实用新型实施例或现有技术中的技术方案,下面将对实施例或现有技术描述中所需要使用的附图作简单地介绍,显而易见地,下面描述的附图仅仅是本实用新型的一些实施例,对于本领域普通技术人员来讲,在不付出创造性劳动的前提下,还可以根据这些附图获得其他的附图。
图1为本实用新型的主视结构示意图;
图2为本实用新型的立体结构示意图;
图3为本实用新型的工作状态示意图;
图4为现有技术的主视结构示意图;
标号说明:
1-探针臂转接板;2-导电基板;3-固定件;4-微调螺丝;
5-微调弹簧;6-导线;7-弯针;8-弯针压板;
9-转接端子;10-导电缓冲体;A-待测芯片;B-第一焊接点;
B’-第二焊接点;L-轴线;F-芯片受力运动方向。
具体实施方式
下面结合实施例对本实用新型做进一步的详细说明,以下实施例是对本实用新型的解释而本实用新型并不局限于以下实施例。
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